- 產(chǎn)品品牌：
- kzt
- 產(chǎn)品型號(hào)：
- BGA測(cè)試座
產(chǎn)品特點(diǎn)：
◆ 采用手動(dòng)翻蓋/雙扣式結(jié)構(gòu),操作方便;
◆ 上蓋的IC壓板采用旋壓式結(jié)構(gòu),下壓平穩(wěn),保證IC的壓力均勻,不移位;
◆ 探針的特殊頭形突起能刺破焊接球的氧化層，接觸可靠，而不會(huì)損傷錫球；
◆ 高的定位槽和導(dǎo)向孔，保證IC定位，測(cè)試效率高；
◆ 測(cè)試頻率可達(dá)9.3GHz；
◆ 用途：集成電路應(yīng)用功能驗(yàn)證測(cè)試；
◆ 可根據(jù)用戶要求定做各種陣列的bga socket
◆ 有翻蓋式結(jié)構(gòu)和雙扣結(jié)構(gòu)兩種方式可供選擇,操作方便；
◆ 上蓋的IC壓板采用旋壓式結(jié)構(gòu)，下壓平穩(wěn)，保證IC的壓力均勻，不移位；
◆ 探針的特殊頭形突起能刺破錫球的氧化層，接觸可靠，而不會(huì)損傷錫球；
◆ 高的定位槽和導(dǎo)向孔，保證IC定位，測(cè)試準(zhǔn)確率高
