- 品牌/商標(biāo):Rtec
- 企業(yè)類型:貿(mào)易商
- 新舊程度:全新
- 原產(chǎn)地:美國
本公司的WLI1000白光干涉儀測量系統(tǒng)沿著縱軸捕獲一系列位置的光強(qiáng)數(shù)據(jù)。通過白光干涉圖的形狀,干涉圖的局部相位或者是二者的結(jié)合來確定表面位置。本公司還有激光共焦,白光共焦,拉曼光譜儀等,可以把這些設(shè)備自由組合在一起,以實(shí)現(xiàn)客戶的不同需求
WLI1000有如下特點(diǎn)
快速直觀的操作
較高的計(jì)算程序,的高測量速度和簡便的操作軟件,使用戶能夠快速的分析和創(chuàng)建
多個(gè)物鏡
該WLI-1000 帶有6物鏡轉(zhuǎn)輪,包括多個(gè)物鏡:長焦,短焦,不同數(shù)值孔徑,投射鏡頭等
電子器件
先進(jìn)的控制器,低機(jī)械噪聲,自校準(zhǔn)系統(tǒng),可選波長,64位并行處理器,標(biāo)準(zhǔn)分辨率達(dá)到1920*1920
硬件
WLI-1000能夠被固定到全自動化的平臺,高強(qiáng)度LED10年保修,精加工零部件,低能耗,遠(yuǎn)程訪問,內(nèi)置相機(jī)側(cè)視圖,有效照明等。
軟件
三維虛擬軟件
影像分析
多種標(biāo)準(zhǔn),粗糙,平面,波浪以及其他表面參數(shù)
微粒(粒子)和細(xì)孔分析
力曲線分析
附帶傅里葉分析
過濾
用戶界面的創(chuàng)建和編輯
影像編輯特征-光,顏色等
尺寸,表面積,體積,承載比分析
紋理計(jì)算,分類,其他紋理分析
光譜和分形分析
先進(jìn)的統(tǒng)計(jì)分析
能夠輸出原始數(shù)據(jù),影像,全部
數(shù)個(gè)可用的附加功能
參數(shù):
內(nèi)校準(zhǔn)
4百萬像素
可選波長
高強(qiáng)度長壽命LED
1920*1920成像
64位中央處理器
低機(jī)械噪聲
并行處理
6物鏡轉(zhuǎn)輪
技術(shù)規(guī)格
Vertical Resolution 垂直分辨率 | 0.1nm 0.1nm |
Turret 轉(zhuǎn)輪 | upto 6 objective turret (manual or automatic) 6鏡頭轉(zhuǎn)輪(自動或手動) |
掃描范圍 | Up to 達(dá)150mmx |
Sample thickness 試樣厚度 | upto 達(dá) |
FOV 視場 | upto 達(dá) |
Objectives 物鏡 | 10x,50x 10倍,50倍 |
Z focussing range Z軸方向聚焦范圍 | 0.1 nm to 0.2 0.1nm到 |
Scanning area 掃描區(qū)域 | 150x 150x |
Tilt 傾斜角 | +/- 7 degree +/-7度 |
Rotation (theta) 平臺旋轉(zhuǎn)范圍 | 360 Degree 360度 |
Pixel 像素 | Standard 1024 x 1024 標(biāo)準(zhǔn)1024x1024 |