- 測(cè)量范圍:
- 0 MΩ
擴(kuò)展電阻測(cè)試儀 | |
應(yīng)用實(shí)例 | |
■ 硅晶體電阻率微觀均勻性的測(cè)量 ■ 硅晶體中氧濃度及其分布的測(cè)量 ■ 硅晶體離子注入層的測(cè)量 ■ 硅外延層厚度和載流子濃度的測(cè)試 ■ 硅pn結(jié)和器件結(jié)構(gòu)的測(cè)試 ■ 硅晶體中雜質(zhì)擴(kuò)散特性的測(cè)試 ■ 硅晶體離子注入層的測(cè)量 |
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北京羲和陽光科技發(fā)展有限公司
免企業(yè)未認(rèn)證證營業(yè)執(zhí)照未上傳
經(jīng)營模式:工廠
所在地:北京
主營產(chǎn)品:硅料檢測(cè)分選儀;硅片電阻率測(cè)試儀;薄膜方塊電阻率測(cè)試儀;硅芯/硅棒電阻率測(cè)試儀;少子壽命測(cè)試儀;
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■ 硅晶體電阻率微觀均勻性的測(cè)量 ■ 硅晶體中氧濃度及其分布的測(cè)量 ■ 硅晶體離子注入層的測(cè)量 ■ 硅外延層厚度和載流子濃度的測(cè)試 ■ 硅pn結(jié)和器件結(jié)構(gòu)的測(cè)試 ■ 硅晶體中雜質(zhì)擴(kuò)散特性的測(cè)試 ■ 硅晶體離子注入層的測(cè)量 |