HORIBA Jobin Yvon 所生產(chǎn)的輝光放電發(fā)射光譜儀(RF-GD-OES)采用射頻(RF)光源，可以進行導(dǎo)體和非導(dǎo)體材料的基體、表面、逐層分析，是一種快速的、操作簡單的分析手段。
GDS是一種理想的表面、逐層分析工具，分析深度高達幾百微米，深度分辨率可至原子層。
HORIBA Jobin Yvon所生產(chǎn)的輝光放電光譜儀(GD)全部采用技術(shù)的HDD(High Dynamic range Detection)檢測器，可以實時、自動優(yōu)化工作參數(shù)，在靈敏度和動態(tài)范圍不受任何損失的情況下，一個分析通道就能完全滿足同一元素在不同層面內(nèi)微量和主量的測定。
詳細指標參數(shù)可訪問https://www.horiba.com/cn/scientific/products
技術(shù)參數(shù)：
GD-Profiler系列包括2種型號，全部裝備RF射頻光源，每種型號均有多種選配件，用于滿足不同用戶的測試要求和預(yù)算。GD-Profiler2可測試多種樣品，有著極寬廣的應(yīng)用范圍，GD-Profiler HR是目前商品化的輝光光譜儀中性能的。
* RF射頻發(fā)生器- 標準配置，符合E級標準，穩(wěn)定性高，濺射束斑極為平坦，等離子體穩(wěn)定時間極短，表面信息無任何失真。
* 脈沖工作模式既可分析常見的涂、鍍層和薄膜，也可以很好的分析熱傳導(dǎo)性能差和熱易碎的涂、鍍層和薄膜。
* 多道(同時)型光學(xué)系統(tǒng)可全譜覆蓋，光譜范圍：110nm至800nm，包含遠紫外，可分析C, H, O, N, Cl
* HORIBA Jobin Yvon 的原版離子刻蝕全息光柵保證了儀器有光通量，因而有的光效率和靈敏度
* HDD® 檢測器可進行快速而高靈敏的檢測，動態(tài)范圍達到10個量級
* 寬大的樣品室方便各類樣品的加載
* 功能強大的QUANTUMT XP軟件可以多種格式靈活方便的輸出檢測
* 激光指點器(CenterLite laser pointer，申請中)可用于加載樣品
* HORIBA Jobin Yvon獨有的單色儀(選配件)可極大的提高儀器的靈活性，可同時測定N+1個元素
* GD-Profiler HR 1米焦距，分辨率高達14pm，可同時分析60個元素
* GD-Profiler HR 可以附加選配1米焦距單色儀，分辨率達9pm
主要特點：
*同類光譜儀中的性能
*HORIBA Jobin Yvon生產(chǎn)的ProfilerHR型輝光光譜儀有著的光譜分辨率，可同時檢測60余種元素(包括氣體元素)，尤其適合于復(fù)雜基體的分析。
