- 品牌/商標(biāo)：sense
- 企業(yè)類型：貿(mào)易商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：美國(guó)
配置及基本參數(shù)：
l 高靈敏電制冷AMPTEK-X123型Si-PIN探測(cè)器(美國(guó)產(chǎn))／探測(cè)面積：5-25mm2／分辨率：149eV
l 美國(guó)spellman公司生產(chǎn)專用電源／輸入電壓: +24v DC，偏差±5%
l 美國(guó)牛津公司生產(chǎn)X熒光分析儀專用光管燈絲電壓: 2.2V對(duì)應(yīng)50 kV/1mA
l 攝像定位系統(tǒng)：30萬像素／800×600分辨率／32位真彩
l 特殊材質(zhì)的X射線濾光片
l 專為不同測(cè)試樣件設(shè)計(jì)的專用準(zhǔn)直器
l MLSQ-FP分析軟件模塊(集ROHS有害元素分析、金屬元素分析、電鍍層厚度分析、全元素分析)
l 采用多道脈沖分析器
l 美國(guó)原裝進(jìn)口初始化標(biāo)樣
l 開蓋感應(yīng)與警示燈響應(yīng)防輻射裝置／級(jí)防輻射12MM厚合金鋁板外殼
l 計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
l 樣品腔尺寸：320×330×80mm可實(shí)現(xiàn)超大樣品的測(cè)試
l 外形尺寸：400×350×450mm
儀器性能／技術(shù)指標(biāo)：
l 測(cè)定元素原子編號(hào)11（Na）~ 92 (U)
l 可同時(shí)分析樣品中25個(gè)金屬的含量極成分
l 測(cè)試樣品形態(tài)：固體，粉末，液體，濾渣，鍍層及其他
l 元素含量分析范圍為1 PPm到99.99%
l 多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.1%
l 長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性為0.1%
l 檢測(cè)時(shí)間100-120秒
l 樣品觀察：高清晰CCD攝像頭可實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確定位微小物體測(cè)量及產(chǎn)品拍照功能
l 可以對(duì)銅、鋅、鐵、不銹鋼等任意基體的金屬做成分分析
l 系統(tǒng)支持化合物換算，即通過金屬元素的分析可以換算出該金屬在物體里相應(yīng)化合物的比例
l 定性分析功能／定量分析功能
l 自動(dòng)辨別，圖譜比對(duì)
l 統(tǒng)計(jì)處理功能／制作功能
工作環(huán)境要求：
l 工作溫度：15-30℃
l 相對(duì)濕度：≤65%
l 電源：AC220V，200W（建議使用者配UPS穩(wěn)壓器)
儀器優(yōu)勢(shì)：
l 獨(dú)特的MLSQ-FP分析軟件模塊可以內(nèi)置無限多標(biāo)樣數(shù)據(jù)，極大的提高了測(cè)試和測(cè)試范圍
l 軟件支持無標(biāo)樣分析，無標(biāo)樣條件下誤差小于1%，可任意進(jìn)行定性定量分析，使用靈活，是目前市場(chǎng)上的軟件插件
l 集ROHS有害元素分析、金屬元素分析、電鍍層厚度分析、全元素分析于一體的測(cè)試軟件
l 光譜和分析界面分離，便于人員與非人員同時(shí)使用
l 軟件可視頻觀察樣品的放置
l 同時(shí)可顯示25種元素分析元素結(jié)果
l 儀器初始化、校準(zhǔn)方便快捷
l 具有多種光譜擬合分析處理技術(shù)（是檢出保證的技術(shù)）
1）Smooth(波峰光滑處理)
2）Pickup Removal(拾取峰去除)
3）Escape peak(逃逸峰處理)
4) Background Removed(背景去處)
5) Blank Subtraction(空白峰位去除)
6) Compton Peak(康普頓波峰處理)
7) Deconvolute(去卷積積分處理)
S＆S-EDX-900 X熒光光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域：
主要適用有色金屬行業(yè)，CU誤差不超過0.2
1、電子信息產(chǎn)品污染控制管理辦法
2、WEEE&RoHS及ELV指令
3、玩具中有害重金屬的檢測(cè)
4、無鉛焊錫分析
5、無鹵化分析
6、金屬冶煉、工廠制造全元素分析
7、各種金屬膜厚度測(cè)量、工業(yè)鍍層厚度測(cè)量
8、營(yíng)養(yǎng)添加劑,各種油品成份分析等
9、氣溶膠顆粒濾膜，刑偵以及痕量分析
10、土壤、催化劑、礦石、原材料成份分析等
整機(jī)保修1年，X射線管保修2年
