儀器介紹

該X熒光光譜儀，它不同于其它的測厚儀的下照式和封閉樣品腔的設(shè)計，而是采用上照式，通過三維的移動和激光定位，實現(xiàn)對尺寸范圍較大部件進行鍍層厚度和含量的點測量

應(yīng)用領(lǐng)域：黃金、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測；金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；貴金屬加工和飾加工行業(yè)；銀行、飾銷售和檢測機構(gòu)；電鍍行業(yè)。

主要特點

該X熒光光譜儀主要針對大件部件的鍍層厚度和含量的、快速測定

1、主要針對大部件的鍍層厚度和含量的、快速測定；
2、同時可分析多達5層以上鍍層；
3、相互的基體效應(yīng)校正模型，厚度分析方法；
4、采用上照式、開放式樣品腔；
5、采用上下活動的玻璃屏蔽罩，避免了測試的X射線外泄；
6、三維的樣品移動平臺和雙激光定位；
7、現(xiàn)代化的外觀、結(jié)構(gòu)和色彩；

技術(shù)參數(shù)

儀器技術(shù)指標：

元素分析范圍從鈉（Na）到鈾（U）。
可同時分析多24個元素。
分析檢出限可達1ppm。
分析含量一般為1ppm到99.9％。
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序。
多次測量重復(fù)性可達0.1％。
長期工作穩(wěn)定性為0.1％。
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源:交流220V&plun;5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。 

配置：

開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機

售后服務(wù)及價格：1、儀器一年保修。

2、產(chǎn)品維修，提供上門維修和排除故障服務(wù)。

3、產(chǎn)品軟件升級。

4、上門安裝，并對用戶操作人

員進行培訓(xùn)。                                     5、產(chǎn)品價格是含稅價（17%增值

稅），并包運費。