儀器介紹 

該X熒光光譜儀的鹵素測試配件是針對鹵族元素（是氯元素）的測試而開發(fā)。

該技術(shù)的主要特征為：利用X射線激發(fā)待測元素，對Si、S、AI、Na、Mg等輕元素有良好的激發(fā)效果，并且測試時(shí)間短，大大了檢測效率和工作效率；采用UHRD探測器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；采用自動穩(wěn)譜裝置，了儀器工作的一致性；利用解譜技術(shù)使譜峰分解，使采用UHRD探測器的分析儀對Si、S、AI等輕元素的測試具有好的分析；采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、排斥效應(yīng)得到明顯的降低。

技術(shù)指標(biāo)

※    分析：0.05%（含量>96%）
※測量時(shí)間：60s-200s
※管壓：5kV-50kV
※管流：50μA-1000μA
※能量分辨率為：（150&plun;5）eV
※元素含量分析范圍：1ppm-99.99%
※同時(shí)分析元素：24種元素同時(shí)分析
※測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
※測量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）
※功能范圍：RoHS行業(yè)、玩具行業(yè)、陶瓷、冶金、礦山

產(chǎn)品參數(shù)

※    產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀輸入電壓：AC 110V/220V                               ※消耗功率：200W
※環(huán)境溫度:15℃-30℃
※環(huán)境濕度：35%-70%
※樣品腔面積: 320mm×180mm
※外形尺寸：650mm×608mm×466mm
※重量：75kg

主要配置

※抽真空系統(tǒng)——升華科技的可能
     與傳統(tǒng)儀器相比，新增加的抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測試的版圖。一張一合、一起一落，盡在手指輕觸間。
※內(nèi)部結(jié)構(gòu)——力與美的融合
     整體鋼架結(jié)構(gòu)，力度的；外觀塑料造型，圓潤優(yōu)雅
※準(zhǔn)直器和濾光片的自動切換系統(tǒng)——沿襲智能傳統(tǒng)
     免去手工操作帶來的繁瑣，科技的魅力在人性化中綻放
※三重保護(hù)模式
※相互的基體效應(yīng)校正模型
※多變量非線性回歸程序
※任意多個可選擇的分析和識別模型
※高信噪比的電子線路單元
※美國產(chǎn)鹵素測試X光管
※鹵素測試X熒光分析軟件
※采用產(chǎn)品—信噪比增強(qiáng)器（SNE）

售后服務(wù)及價(jià)格：1、儀器一年保修。

2、產(chǎn)品維修，提供上門維修和排除故障服務(wù)。

3、產(chǎn)品軟件升級。

4、上門安裝，并對用戶操作人員進(jìn)行培訓(xùn)。                                   5、產(chǎn)品價(jià)格是含稅價(jià)（17%增值稅），并包運(yùn)費(fèi)。