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上海天干機(jī)械有限公司

免企業(yè)未認(rèn)證證營業(yè)執(zhí)照未上傳

經(jīng)營模式：工廠

所在地：上海

主營產(chǎn)品：真空打檢機(jī);乳品離心分離機(jī);液位檢查機(jī);飲料生產(chǎn)流水線;飲料包裝設(shè)備;果汁濃縮汁;咖啡粉;乳脂末;

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: 7MF4033系列壓力變送器好折扣供應(yīng); 電議

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: 反射式膜厚測(cè)量?jī)xFE-3000 日本大塚OTSUKA; 電議

: 供應(yīng)真空打檢機(jī)，飲料、乳品、啤酒瓶、罐泄漏檢查; 電議

: 供應(yīng)全箱真空打檢機(jī); 電議

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類型	薄膜測(cè)厚儀	品牌	OTSUKA
型號(hào)	FE-3000	測(cè)量范圍	1nm-250μm（mm）
外形尺寸	481（H）×770（D）×714（W）（主體部分）（mm）

紫外到近紅外光領(lǐng)域的反射光譜，適用於多層膜量測(cè)、光學(xué)常數(shù)分析的光干涉式膜厚儀。

以光為量測(cè)媒介，非接觸式、不破壞樣品的高再現(xiàn)性。190nm~1600nm的大範(fàn)圍波長(zhǎng)解析。1nm~250μm薄膜到厚膜的全般對(duì)應(yīng)?？蓪?duì)應(yīng)顯微鏡下的微小量測(cè)範(fàn)圍。

分光膜厚儀系列
橢圓偏光儀 FE-5000　　膜厚光譜分析儀系統(tǒng) MCPD series
桌上型橢圓偏光儀 FE-5000S 　　膜厚量測(cè)儀 FE-300

絕對(duì)反射率分析多層膜解析光學(xué)常數(shù)解析（n:屈折率，k:衰減係數(shù)）

■平面顯示器
　?液晶顯示器、薄膜電晶體、OLED
■半導(dǎo)體、化合物半導(dǎo)體
　?矽半導(dǎo)體、半導(dǎo)體雷射、強(qiáng)誘電、介電常數(shù)材料
■資料儲(chǔ)存
　?DVD、錄影機(jī)讀取頭薄膜、磁性材料
■光學(xué)材料
　?濾光板、反射膜
■平面顯示器
　?液晶顯示器、薄膜電晶體、OLED
■薄膜
　?反射膜
■其它
　?建築用材料

標(biāo)準(zhǔn)型厚膜對(duì)應(yīng)型膜厚量測(cè)範(fàn)圍1 nm ~ 40 μm0.8 ~ 250 μm波長(zhǎng)量測(cè)範(fàn)圍190 ~ 1600 nm750 ~ 850 nm感光元件光電二極管陣列 512ch矩陣型CCD影像感測(cè)器 512ch光電二極管陣列 512ch光源規(guī)格D2/I2（紫外-可視光）、D2（紫外光）、I2（可視光）I2（可視光）電源規(guī)格AC100V&plun;10V 750VA（自動(dòng)平臺(tái)驅(qū)動(dòng)部分）尺寸481（H）×770（D）×714（W）mm（主體部分）重量約96kg（主體部分）

■玻璃上的二氧化鈦膜厚、膜質(zhì)分析