薄膜測(cè)量領(lǐng)域的#1品牌
F70使用新的顏色編碼厚度測(cè)量法(CTM)極大了拓展了可測(cè)膜層厚度，使其達(dá)到了3.5mm的歷史新高度。而且，CTM的主要優(yōu)點(diǎn)在于受膜層的粗糙度和非均勻性的影響比較小，而且能測(cè)量曲面鍍膜的厚度。
F70有以下測(cè)量范圍以供選擇，具體規(guī)格如下：
| Lens Assembly or Upgrade Kit | Thickness Range (Index=1.5) |
Precision | Spot Size |
| UPG-F70-SR-KIT | 15 nm-50 μm | 0.1 nm | Standard 1.5 mm (Optional down to 20 μm) |
| LA-CTM-VIS-1mm | 50 μm-1.5 mm | 0.15 μm | 5 μm |
| LA-CTM-VIS-2.4mm | 150 μm-3.5 mm | 0.1 μm | 10 μm |
*以上數(shù)值會(huì)因薄膜堆疊層數(shù)變化而有所不同。
應(yīng)用
●幾乎所有材料表面上的鍍膜都可以測(cè)量，即使是藥片，木材或紙張等粗糙的非透明基底。
●玻璃或塑料的板材、管道和容器。
●光學(xué)鏡頭和眼科鏡片。
優(yōu)勢(shì)及售后服務(wù)：
- 擁有130多種材料的數(shù)據(jù)庫(kù)
- 軟件更新
- 工作日應(yīng)用工程師24小時(shí)的技術(shù)支持
- 在線“手把手”支持
- 支持硬件升級(jí)
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