特色功能：

v 人性化Windows界面，操作簡(jiǎn)單，上手容易。

電子技術(shù)有一定基礎(chǔ)，略懂計(jì)算機(jī)操作，短時(shí)間內(nèi)即可輕松掌握。

v 拼板數(shù)據(jù)自動(dòng)展開及子板選測(cè)功能

針對(duì)多拼板PCB，只用調(diào)試單拼板數(shù)據(jù)，連板數(shù)據(jù)可自動(dòng)展開。

多拼板測(cè)試時(shí)，系統(tǒng)可識(shí)別未打件或不存在的子板，自動(dòng)跳過不測(cè)試。

v 元件實(shí)體顯示功能，拼板板示功能，子板變色功能

測(cè)試時(shí)可實(shí)時(shí)圖形顯示不良元件、腳位及針點(diǎn)位置。編輯時(shí)可隨點(diǎn)隨選或手動(dòng)輸入零件編號(hào)、腳位、短/開路不良群組、網(wǎng)點(diǎn)列表等，方便維修人員查找。元件實(shí)體圖形自動(dòng)生成，多拼板元件實(shí)體圖形自動(dòng)展開。多拼板測(cè)試不良時(shí)，元件實(shí)體圖形內(nèi)的不良子板將變?yōu)榧t色，方便維修與識(shí)別。

v 測(cè)試程序自動(dòng)產(chǎn)生與調(diào)試功能

開短路＼IC數(shù)據(jù)自動(dòng)學(xué)習(xí)產(chǎn)生。常規(guī)元件自動(dòng)調(diào)試，隔離點(diǎn)自動(dòng)選擇，大幅節(jié)省待測(cè)板測(cè)試程序制作時(shí)間。

v 詳細(xì)的統(tǒng)計(jì)分析報(bào)表，覆蓋率分析功能

自動(dòng)統(tǒng)計(jì)待測(cè)板每日、每月或特定期間之測(cè)試結(jié)果訊息。根據(jù)不良零件、不良針點(diǎn)排行，能很快找到生產(chǎn)問題點(diǎn)所在，有效監(jiān)控針床和待測(cè)板質(zhì)量。自動(dòng)計(jì)算覆蓋率，分析調(diào)試，針對(duì)ICT不可測(cè)試元件，提前做好預(yù)防，大大提升產(chǎn)品質(zhì)量。所有統(tǒng)計(jì)報(bào)表均可匯出至Excel兼容格式。

v 立式或臥式鋁電解電容極性與漏件測(cè)試技術(shù)

針對(duì)電路板上的立式電解電容極性和并聯(lián)電容漏件測(cè)試，提出整體解決方案，可測(cè)率趨近于100%， 測(cè)試速度快而，真正解決您生產(chǎn)線電解電容測(cè)試的問題。 針對(duì)臥式電容，可利用漏電流測(cè)試法，判斷其是否反插。

v 四線式超低電阻測(cè)試技術(shù)

傳統(tǒng)二線測(cè)試技術(shù)，均只能作較粗略之量測(cè)，測(cè)試僅為0.5歐姆左右，易造成量測(cè)的死角。本公司機(jī)種采用四線式(4 Wires)測(cè)試技術(shù)(2 Wires信號(hào)， 2 Wires測(cè)量表頭)，可快速、量測(cè)，測(cè)試0.01歐姆。

v 并聯(lián)二極管測(cè)試功能

當(dāng)兩個(gè)二極管同相并聯(lián)時(shí)，若采用傳統(tǒng)二極管測(cè)試方式，缺件將無法測(cè)試。本公司機(jī)種采用D+R同步測(cè)試方法，在二極管導(dǎo)通時(shí)，測(cè)試二極管兩端的順向電阻，可判斷出二極管是否缺件，翹腳等問題。

v SMD / BGA IC感應(yīng)測(cè)試功能（Option）

不受IC保護(hù)二極管特性限制，利用本公司研發(fā)之TestJet感應(yīng)測(cè)試技術(shù)，檢測(cè)SMD或BGA封裝IC、SMD連接器的開短路情況。

基　本　參　數(shù)

測(cè)試點(diǎn)數(shù)

320點(diǎn)(標(biāo)準(zhǔn)配置)  /  1024點(diǎn)(擴(kuò)充點(diǎn)數(shù))

測(cè)試步驟

無限制

操作系統(tǒng)

人性化Windows 界面

ICT測(cè)試軟件

AT中文版

測(cè)試時(shí)間

開/短路 : 1秒/1024 點(diǎn)  常規(guī)元件 : 2mS ~ 40mS (程序設(shè)定或自動(dòng)調(diào)整)

電容極性：開/短路 : 0.5秒/128點(diǎn)  /    50個(gè)電解電容小于2秒

通道板

64點(diǎn) / PCS

隔離點(diǎn)

每一測(cè)試有10個(gè)，采用全新REED RELAY方式， Guard Ratio | 100

板示功能

Board View　3D元件實(shí)體顯示功能、板示圖自動(dòng)生成

超低阻測(cè)試功能

針對(duì)小電阻，小可至0.01歐姆

立式電解電容極性測(cè)試功能

三針測(cè)試法鑒別單顆及并聯(lián)電解電容的漏件及反插，可測(cè)率趨近100%

臥式電容極性測(cè)試功能 

利用漏電流測(cè)試法，判斷其是否漏件或反向

常規(guī)IC測(cè)試功能

應(yīng)用IC Clamping Diode特性，檢測(cè)IC各腳位開短路、空焊等問題

測(cè)　試　范　圍

電阻器 (Resistance)

超低阻測(cè)試：0.01Ω~100MΩ±1 ~ 5% 普通測(cè)試：0.1Ω~100MΩ±2 ~ 5%

電容器 (Capacitance)

1pF ~ 40mF±2 ~ 5%

電感 (Inductance)

1uH ~ 50H±2 ~ 5%

二極管 (Diode)

0.1 ~ 6V±1 ~ 3%

三極體 (Transistor)

三端測(cè)試Vce飽和電壓及β值

穩(wěn)壓管 (Zener Diode)

0.1 ~ 16V±1 ~ 3%

光藕器、繼電器 

用四端測(cè)試其導(dǎo)通電壓或電阻

場(chǎng)效應(yīng)管 (FET)

利用三端測(cè)試法測(cè)試其：Vds \ Cds \ Rdon

系　統(tǒng)　配　置

測(cè)試信號(hào)源

交流電壓信號(hào) : 10mV ~ 2500mV　交流/直流電流信號(hào) : 10uA ~ 20mA
直流電壓信號(hào) : 10mV ~ ±1250mV

測(cè)試頻率區(qū)段 : 120 / 1020 / 10K / 100K / 2MHz(交流60Hz)
測(cè)試頻率區(qū)段 : 100 / 1K / 10K / 100K / 2MHz (交流50Hz)

電路板工作尺寸

500mm x 350mm(標(biāo)準(zhǔn)配置) 可依客戶需求訂制

機(jī)器 尺寸及重量

1000mm(寬) x 750mm(深) x 1600mm(高) , 約 200Kg

額定工作氣壓

3 ~ 6Kgs/cm2

額定工作電源

交流100V ~ 240V±10%, (50Hz, 60Hz) 

電腦

主機(jī)

P4或以上電腦

                  顯示器

LCD液晶顯示器

選配

條碼管理系統(tǒng)、測(cè)試結(jié)果自動(dòng)存檔功能、良品\不良品自動(dòng)蓋章、TestJet感應(yīng)測(cè)試技術(shù)、打印機(jī)、紅外線安全開關(guān)、SFIS遠(yuǎn)程連線管理系統(tǒng)、多國語言版本測(cè)試軟件.......................