結(jié)構(gòu)特點及讀數(shù)方式：

        1. 本儀器由精密微分測頭及測量支架組成。該標(biāo)定儀是積木式結(jié)構(gòu)設(shè)計。將精密微分測頭及支臂以多種方式或位置組合，同時配有加長立柱附件，配有圓柱、板、刀片等多種形式的分離試樣，可以方便地進(jìn)行多種規(guī)格型號引伸計的計量標(biāo)定。用戶還可以根據(jù)自己的測試特殊需要，配置專用配件進(jìn)行精密微變形量計量。

        2. 精密微分測頭由滑動量桿、量桿套筒、讀數(shù)內(nèi)筒、讀數(shù)外筒及高精密螺紋副組成。其大量程25㎜；最小分度（游標(biāo)分度）0.0002㎜；旋轉(zhuǎn)外筒分度0.002㎜。

位移變化讀數(shù)為：

L=（a+0.001b+0.0001c）-（a0+0.001b0+0.001c0）

其中： a0 b0 c0為相應(yīng)位移變化前讀數(shù)

a－內(nèi)筒毫米刻線讀數(shù)

b－外筒刻線讀數(shù)

c－游標(biāo)刻線讀數(shù)

使用說明：

        請依據(jù)JJG762－2007引伸計檢定規(guī)程要求，進(jìn)行引伸計的檢定：

        1、根據(jù)被檢引伸計的規(guī)格型號及測試的試樣規(guī)格，選擇與測試試樣基本一致的分離試樣。

        2、調(diào)整兩測量支臂的位置，獲得適宜的檢定空間；調(diào)整兩測量支臂上偏心卡簧位置以使兩分離試樣保證同軸；調(diào)整測微頭與下底座的距離，以保證測微頭的有效行程。一切調(diào)整好后注意旋緊各個所需固緊部位，在檢定過程中除準(zhǔn)許運(yùn)動位移的部分外，都不準(zhǔn)許有任何滑動或松動。

        3、引伸計檢定范圍及檢測點的選擇與測試：

        1）檢定范圍應(yīng)根據(jù)引伸計需要測試材料的技術(shù)參數(shù)決定。例如，使用50㎜標(biāo)距引伸計測試鋼材試樣的σP0.2技術(shù)數(shù)據(jù)，那么請您選擇1㎜的檢定量程。如果測量n值則需要檢定25㎜的檢定量程。

        2）對檢定點的選擇，一般每個范圍不少于8點。

        3）檢定引伸計時一定用整數(shù)刻度倍讀法，不要用游標(biāo)估算讀數(shù)或小數(shù)尾數(shù)讀數(shù)，因為每一次的十點讀數(shù)已造成了讀數(shù)的疲勞，估算讀數(shù)或小數(shù)尾數(shù)讀數(shù)會加劇測量誤差的產(chǎn)生。而整數(shù)單刻線對整讀法最清晰簡單準(zhǔn)確，出現(xiàn)誤差的機(jī)率最小，即便出現(xiàn)也會及時發(fā)現(xiàn)，因為整數(shù)刻度倍讀數(shù)的誤差，其引伸計誤差值也會成倍數(shù)增加，這種粗大誤差會被很快及時發(fā)現(xiàn)。

        4、加長立柱的使用：在使用基本立柱檢定引伸計時，無法保證該引伸計的標(biāo)距空間時，取掉基本立柱上保護(hù)帽，將加長立柱插入主立柱對準(zhǔn)V型槽，旋緊上螺絲。一定要固緊后，方可使用。

主要配置：

1. 組合校準(zhǔn)桿2件。用于組合多種模擬分離試樣。

2. 刀片2件。裝置于組合校準(zhǔn)桿上：用于COD或JIC夾規(guī)檢定。

3. 橫試片2件。裝置于組合校準(zhǔn)桿上：用于橫向引伸計的檢定。

4. 板件2件。裝置于組合校準(zhǔn)桿上：用于模擬板材試樣的檢定。

5. φ10×120桿1件。置于上支臂卡簧孔內(nèi)用于模擬10㎜以上直徑試樣的檢定。

6. φ10×50桿件1件。置于測微頭連接套內(nèi)用于模擬10㎜以上直徑試樣的檢定。

7. φ10/φ5×100變徑桿1件。置于上支臂卡簧孔內(nèi)用于模擬5㎜以下直徑試樣的檢定。

8. φ10/φ5×50變徑桿1件。置于上支臂卡簧孔內(nèi)用于模擬5㎜以下直徑試樣的檢定。

9. 170㎜加長立柱1件。用于延長標(biāo)定儀高度。

10. 聯(lián)接套1件。置于微分測頭滑動量桿φ10端頭上，連接分離試樣進(jìn)行檢定。