PID是電位誘發(fā)衰減(Potential Induced Degradation)。光伏組件長期在高電壓作用下會使得玻璃、封裝材料之間存在漏電流，大量電荷聚集在電池片表面，使得電池片表面的鈍化效果惡化，導(dǎo)致FF、Isc、Voc降低，使組件性能低于設(shè)計標準，這種現(xiàn)象叫電位誘發(fā)衰減，簡稱PID效應(yīng)。實踐表明，無論是晶硅組件或者薄膜組件等任何一種組件，在負偏壓下都有PID的風(fēng)險，當(dāng)組件發(fā)生PID效應(yīng)時，會嚴重影響發(fā)電效率，嚴重的，發(fā)電效率會衰減到額定值的50%以下，嚴重影響光伏電站周期。 PID的衰減模式有： 1）半導(dǎo)體區(qū)受到影響，導(dǎo)致分層現(xiàn)象： 層內(nèi)離子的遷移，導(dǎo)致電荷聚集，影響半導(dǎo)體材料表面的區(qū)。嚴重情況下，離子的聚集，例如鈉離子在玻璃表面的聚集，將導(dǎo)致分層現(xiàn)象。 2）半導(dǎo)體結(jié)的性能衰減和分流現(xiàn)象： 離子遷移會發(fā)生在層內(nèi)，使半導(dǎo)體結(jié)的性能衰減并造成分流。 3）電離腐蝕和大量金屬離子的遷移現(xiàn)象： 通常封裝過程中的會造成電解腐蝕和金屬導(dǎo)電離子的遷移。 目前，造成PID現(xiàn)象的原因可能分外部原因和內(nèi)部原因2種： 外部原因：光伏組件在野外高溫、潮濕和由于光伏陣列接地方式引起的光伏組件嚴重的腐蝕和衰退。 內(nèi)部原因：是逆變器不接地；環(huán)境條件如溫濕度使電池片和接地邊框之間形成漏電流；封裝材料、背板、玻璃和邊框之間形成了漏電流通道；電池生產(chǎn)工藝等方面。 針對減緩、抑制、消除PID效應(yīng)，目前有以下幾種常見辦法： 1）系統(tǒng)負接地：即光伏系統(tǒng)接地。光伏系統(tǒng)由光伏組件、匯流箱、直流配電柜、逆變器等元件、設(shè)備組成。比較常見的方式為選取匯流箱或者逆變器的負接地。，該方法可以、減緩PID現(xiàn)象發(fā)生。但該種方法與目前設(shè)計的主流的光伏系統(tǒng)不同，為了考慮，目前光伏系統(tǒng)的設(shè)計都是采用直流側(cè)不接地的方式，即光伏系統(tǒng)的直流側(cè)的正和負都未與大地有任何電氣連接。如果強行采用負接地的方式，會導(dǎo)致一些雜散電流從接地通道疊加在直流側(cè)輸入端，并且當(dāng)正緣破損時，可能對人、設(shè)備、系統(tǒng)產(chǎn)生嚴重的傷害。 在光伏系統(tǒng)中，未接地系統(tǒng)在實際使用時，光伏組件的負電勢會比地要低，負和地之間存在一個負電壓，會導(dǎo)致光伏PID現(xiàn)象的產(chǎn)生。為了遏制PID現(xiàn)象的產(chǎn)生，用簡單的負接地，迫使負和地之間等電位。這種辦法雖然能的遏制PID現(xiàn)象的產(chǎn)生速度，但是也會帶來新的問題。譬如，當(dāng)系統(tǒng)正發(fā)生接地故障時，系統(tǒng)的漏電流會比較大，對光伏電站會是一個大的威脅。因為負接地，那么大地就和負是等電位，這樣如果人員誤觸到光伏組件的正，會對人員的人身造成大的損害。同時，由于光伏系統(tǒng)負接地，那么系統(tǒng)的交流側(cè)和直流側(cè)就會形成的環(huán)流，對光伏系統(tǒng)也存在不因素。 2）封裝材料緣強度：目前各個組件工廠都在通過封裝材料的緣強度來減小組件對地的漏電流，事實證明，封裝材料的緣強度的確可以減緩PID現(xiàn)象發(fā)生的時間，但PID現(xiàn)象的發(fā)生，還是困難的。 3）調(diào)整電池片的工藝：通過調(diào)整電池片工藝，也可以減緩PID現(xiàn)象的發(fā)生。 電源上的二管是反向并聯(lián)的，起到保護作用，后級電路關(guān)閉，剩余電流對元器件造成傷害。 發(fā)明內(nèi)容 PID效應(yīng)裝置在光伏系統(tǒng)的負和地之間接入一個高阻值的電阻1，避免了負直接接地，即使正故障時接地，或者人觸摸到系統(tǒng)的正，也能把電流限制在的范圍內(nèi)，系統(tǒng)和人員的。同時，我們在系統(tǒng)的負和地之間接入了一個可調(diào)直流電源2，用于抬高系統(tǒng)的負和地之間的電壓，可調(diào)直流電源2通過控制器9調(diào)節(jié)，正向電壓抑制PID現(xiàn)象的效果，同時調(diào)節(jié)具有連續(xù)性和實時性。