光學(xué)系統(tǒng)

型號：O-INSPE

ZEISS O-INSPE
每個(gè)領(lǐng)域中的
來自蔡司的O-INSPE復(fù)合式測量機(jī)使您能理想地測量到每一個(gè)特征——通過光學(xué)或接觸式。一個(gè)重要的特色：O-INSPE在18-30℃的溫度范圍內(nèi)提供合ISO標(biāo)準(zhǔn)的三維。一個(gè)附加的亮點(diǎn)：CALYPSO軟件不簡便地交付測量結(jié)果，而且簡化了發(fā)覺和辨識錯(cuò)誤原因的過程。

大視野，高清圖像——蔡司Discovery遠(yuǎn)心變焦鏡頭

蔡司Discovery.V12來自蔡司顯微鏡事業(yè)部。與常規(guī)鏡頭比較，提供四倍更大視場，即便于鏡頭周邊區(qū)域亦可圖像質(zhì)量。優(yōu)點(diǎn)：減少測量時(shí)間并具有穩(wěn)定的。

更多測量點(diǎn)，更多信息——蔡司VAST XXT連續(xù)掃描測頭

O-INSPE配備靈活、快速及高的VAST XXT接觸式連續(xù)掃描測頭。 通過這種掃描測頭即可捕捉相當(dāng)大量的測量點(diǎn)，取得有關(guān)形狀和位置的信息，是此類測量機(jī)中的佼佼者。別的多探頭測量機(jī)允許單點(diǎn)測量，而且探針測力相當(dāng)大；蔡司O-INSPE卻能以毫牛級別探針測力進(jìn)行掃描測量，所以針對薄壁的工件也能實(shí)現(xiàn)真正的3D測量。

既快速又精準(zhǔn)。讓您一目了然——蔡司CALYPSO軟件

O-INSPE與CALYPSO測量軟件提供的可視化功能，使O-INSPE開啟了測量機(jī)可視化的新紀(jì)元。通過它們您可以同時(shí)查看實(shí)際狀態(tài)、理論狀態(tài)及偏差，更快捷詮釋測量結(jié)果。

還有銷售微間距LED 銀漿檢測機(jī)、LED金線結(jié)構(gòu)3D檢測、3D測量儀、LED燈絲檢查包裝機(jī)、在線式LOGO檢測儀、離線式雙面輔料檢測儀、離線式雙面檢測儀 、平面度檢測設(shè)備、平板電腦半成品AOI檢測設(shè)備、手機(jī)半成品AOI檢測設(shè)備、高非接觸式點(diǎn)膠機(jī)、膠水檢測設(shè)備等等，詳情請聯(lián)系我們。