測(cè)試能力:Corresponding to 15KV, 200A
測(cè)試方案: Keep the low current even for High voltage.
高溫測(cè)試能力:Keep the low current with 350 deg.C High Temperature
探針卡能力: Chuck Top for Low contact resistance
1、半自動(dòng)12英寸晶圓探針臺(tái)
2、探針技術(shù)滿足測(cè)試過載而不損壞探針
3、自有技術(shù)能提供各類探針卡
4、支持平臺(tái)多樣化定制
5、探針臺(tái)操作軟件使用,也能為圖示儀+探針臺(tái)方案用戶提供定制的系統(tǒng)操作軟件