布魯克Bruker（原veeco）大樣品臺比AFM—-Edge

報價及更詳細(xì)介紹請向發(fā)郵件索要。咨詢電話：

Dimension Edge——，大樣品臺AFM的解決方案

Dimension? Edge? 原子力顯微鏡采用新技術(shù)， 其儀器性能、測試功能和操作性在同類產(chǎn)品中處于水平。基于的Dimension Icon?平臺, Dimension Edge系統(tǒng)的整體設(shè)計使其 具有低漂移、低噪音的特點(diǎn), 大大了數(shù)據(jù)獲取速度和性，使用這臺的儀器，幾分鐘時間即可獲得高質(zhì)量、可發(fā)表的數(shù)據(jù)。這些檢測性能的，并沒有影響儀器的價格，低于您對如此原子力顯微鏡的支出預(yù)算。此外，視覺反饋集成化和預(yù)配置可選功能輔助用戶獲得更高質(zhì)量的測量結(jié)果。整套儀器充滿人性化的設(shè)計，適用于各個研究階段和科研水平的用戶。

性價比的閉環(huán)Dimension系列AFM

的傳感器設(shè)計既獲得了閉環(huán)的，又具有 開環(huán)的噪音水平。

顯著地降低噪音和漂移，在大樣品臺AFM上實(shí)現(xiàn) 了小樣品臺AFM的成像性能。

顯微鏡和電路的設(shè)計既了高成像性能，又使 得價格適中。

快速，，高分辨的測量結(jié)果

的可視化操作界面,整體采用流程式設(shè)計，快速簡便的設(shè)定各步驟參數(shù)

5像素 的高分辨率相機(jī)和馬達(dá)驅(qū)動可編程平臺，提供快速樣品導(dǎo)航和多點(diǎn)測量

從大范圍掃描到分辨檢測的無縫過渡 可在短時間內(nèi)獲得準(zhǔn)確結(jié)果。

適用于任何樣品上的任何應(yīng)用的解決方案

開放式平臺設(shè)計可適應(yīng)各種實(shí)驗(yàn)和樣品的需求。

新儀器的設(shè)計和軟件利用了的Bruke  AFM掃描模式和檢測技術(shù)，滿足前沿的應(yīng)用需求。

內(nèi)置的信號路由模塊，幫助研究者根據(jù)新的研究方向和實(shí)驗(yàn)需求，自定義檢測模式。

的納米級測量能力，適用于各研究水平

型模塊化設(shè)計，不儀器成本的前提下，實(shí)現(xiàn)更高的測量性能。

新的8型軟件，凝聚10幾年AFM研發(fā)精華，常規(guī)掃描模式外，根據(jù)實(shí)驗(yàn)需求，配備各種備選模式。

完整的控制平臺，既可直觀導(dǎo)航，又可進(jìn)行強(qiáng)大的編程控制。

DIMENSION系列AFM提供了優(yōu)質(zhì)的AFM性能

Dimension Edge原子力顯微鏡既具有卓越性能，保留了Dimension ICON系統(tǒng)的諸多技術(shù)，中等價位的價格 與儀器功能了的平衡。其中的技術(shù)是 Bruker性的閉環(huán)掃描，結(jié)合溫度補(bǔ)償位置傳感器和模 塊化的低噪音控制電路，這套針尖掃描部件把閉環(huán)噪音減 小到了單個化學(xué)鍵長度。為了限度的發(fā)揮這一優(yōu)點(diǎn)，掃描器被固定在一個堅固的，具有漂移補(bǔ)償?shù)臉蛄航Y(jié)構(gòu)上。此橋梁結(jié)構(gòu)基于FPGA的溫度控制并快速穩(wěn)定到低的漂移速率。因此，Dimension Edge原子力顯微鏡結(jié)合了高生產(chǎn)效率，高，大樣品臺的樣品通用性，閉環(huán)操作 和以前在小樣品臺、開環(huán)儀器上才能獲得的高分辨率圖像等特點(diǎn)，能夠獲得任何樣品的真實(shí)圖像，實(shí)現(xiàn)性的實(shí)驗(yàn)成果。

的AFM功能

Dimension Edge既包含了各種常規(guī)的掃描模式和Bruker技術(shù)，還提供了針對各種具體應(yīng)用領(lǐng)域的解決方案，例如納米級的電學(xué)測量，可控環(huán)境下的材料表征等。這些功能夠在廣泛應(yīng)用中獲得成像和單點(diǎn)譜線測量，例如從太陽能和半導(dǎo)體器件的表征和多相聚合物材料成像，到從單分子到全細(xì)胞的生命科學(xué)樣品的原位成像和單個納米顆粒的研究。

電學(xué)表征

Dimension Edge不是把一個AFM探針連接到低噪音電流放大器上，而是開發(fā)了Dark Lift模式，Dark Lift是在導(dǎo)電原子力數(shù)據(jù)把光電效應(yīng)從樣品的本征電導(dǎo)性中清晰分離的方法。它是基于布魯克已申請的，應(yīng)用磁力顯微鏡和靜電力顯微鏡中 的抬起模式（Lift Mode）。系統(tǒng)利用這兩種性能以在靜電電勢成像應(yīng)用的優(yōu)化測試。迄今為止，結(jié)合了Dark Lift模式的閉環(huán)（常損耗量）的掃描電容顯微鏡（SCM）依然是對摻雜濃度表征的的解決方案。然而，如果研究者想要以靈敏度來探測小電壓的變化，也可很容易地把抬起模式 與表面電勢顯微鏡結(jié)合起來。Dimension Edge系統(tǒng)通過雙頻的方法，能夠?yàn)槿魏戊o電電勢成像的應(yīng)用理想的解決方案。