- 企業(yè)類型：貿(mào)易商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：北京
TT230氧化膜測厚儀采用渦流法測量原理，是一種超小型的測量儀，它能快速、無損傷、精頦地進行非磁性金屬基體上非導電覆層厚度的測量。可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、商檢等檢測領域。儀器體積小，測頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場測量。
主要功能
可進行零點校準及二點校準。
可對測頭進行基本校準。
設有五個統(tǒng)計量：平均值（MEAN）、值（MAX）、小值（MIN）、測試次數(shù)（NO）、標準偏差（S.DEV）。可存貯和統(tǒng)計計算15個測量值。
具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）。
自動關機功能。
刪除功能：對測量中出現(xiàn)的單次可疑數(shù)據(jù)進行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進行新的測量。
操作過程有蜂鳴聲提示。
有欠壓指示功能。
有錯誤提示功能。
主要技術指標
測量原理：渦流法
測量范圍：1～1250μm
測量：±（3%H+1.5）μm（零點校準）
±[(1～3)%H+1.5] μm（二點校準）
標準配置
TT230主機（含測頭） 1臺
標準片 5片
鋁基體 1塊
充電器 1個
