- 品牌/商標(biāo)：泛美
- 企業(yè)類型：貿(mào)易商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：美國
38DL PLUS測厚儀的一個(gè)主要應(yīng)用是測量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、外殼及其他結(jié)構(gòu)的剩余厚度。這些應(yīng)用中常使用的是雙晶探頭。
1.用于標(biāo)準(zhǔn)D79X系列雙晶探頭的自動(dòng)探頭識別功能。
2.10個(gè)自定義雙晶探頭設(shè)置。
3.校準(zhǔn)過程中用于雙晶探頭的優(yōu)化默認(rèn)增益。
4.用于自定義V聲程補(bǔ)償?shù)?/span>V聲程創(chuàng)建功能。
5.校準(zhǔn)過程中出現(xiàn)回波加倍時(shí)使用的校準(zhǔn)加倍功能。
6.用于測量帶有漆層和涂層表面的材料的穿透涂層和回波到回波測量功能。
7.高溫測量：溫度可高達(dá)500°C。
8.鍋爐管件和內(nèi)部氧化層測量（可選項(xiàng)），使用M2017或M2091單晶探頭。
9.EMAT探頭（E110-SB），用于對外部附有氧化層/沉積物的鍋爐管件進(jìn)行不使用耦合劑的厚度測量。
穿透涂層技術(shù)
使用單個(gè)底面回波測量金屬的實(shí)際厚度。使用這個(gè)技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個(gè)厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，要測量金屬的厚度，不再需要減去表面的漆層和涂層。穿透涂層測量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。
溫度補(bǔ)償
材料中的溫度差異會影響材料聲速和厚度測量的性。用戶使用溫度補(bǔ)償功能可以手動(dòng)輸入校準(zhǔn)試塊的溫度值和測量時(shí)的實(shí)際（高）溫度值。38DL PLUS自動(dòng)顯示經(jīng)過溫度校正的厚度值。
氧化層/沉積物測量（可選項(xiàng)）
38DL PLUS使用算法測量鍋爐管件內(nèi)壁氧化層/沉積物的厚度。測厚儀同時(shí)顯示鍋爐管件的金屬基底厚度和氧化層的厚度。了解氧化層/沉積物的厚度可以預(yù)測管件的壽命。建議在此項(xiàng)應(yīng)用中使用M2017或M2091探頭。
V聲程創(chuàng)建功能
用戶使用這項(xiàng)正等待通過的新功能可以為幾乎所有雙晶探頭創(chuàng)建一條自定義V聲程補(bǔ)償曲線。在為大多數(shù)雙晶探頭保存和調(diào)用自定義設(shè)置時(shí)，這條曲線也被同時(shí)保存和調(diào)用。
用戶只需校準(zhǔn)并輸入已知厚度值（小3個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)；10個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)），儀器就會創(chuàng)建V聲程補(bǔ)償曲線。
自動(dòng)探頭識別
所有標(biāo)準(zhǔn)的雙晶探頭都具有自動(dòng)探頭識別功能。這個(gè)功能可以為每種不同類型的探頭自動(dòng)調(diào)用默認(rèn)V聲程校正。
對塑料、金屬、復(fù)合材料、玻璃、橡膠及陶瓷材料進(jìn)行厚度測量
用戶使用單晶探頭可以測量金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我們提供各種頻率、直徑和接口類型的單晶探頭。用戶使用高分辨率軟件選項(xiàng)可以進(jìn)行分辨率為0.001毫米的極其的厚度測量。
? 對于所有探頭，標(biāo)準(zhǔn)分辨率為0.01毫米。
? 在使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭的情況下，高分辨率軟件選項(xiàng)可顯示分辨率高達(dá)0.001毫米的測量值。
? 高穿透軟件選項(xiàng)用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
? 多層軟件選項(xiàng)可對多達(dá)4個(gè)不同層的厚度同時(shí)進(jìn)行測量。
? 測量厚度、聲速或渡越時(shí)間。
? 帶有默認(rèn)和自定義設(shè)置的自動(dòng)調(diào)用應(yīng)用簡化了厚度測量。
高穿透軟件選項(xiàng)
用戶使用這個(gè)選項(xiàng)可在使用低頻單晶探頭（低到0.5 MHz）的情況下，測量橡膠、纖維玻璃、鑄件及復(fù)合材料等較厚或聲波衰減性較強(qiáng)的材料。
多層軟件選項(xiàng)
這個(gè)軟件選項(xiàng)計(jì)算并同時(shí)顯示多達(dá)4個(gè)不同層的厚度測量值。
技術(shù)參數(shù)
測量
雙晶探頭測量模式 | 從激勵(lì)脈沖后的延時(shí)到個(gè)回波之間的時(shí)間間隔。 |
穿透涂層測量模式 | 利用單個(gè)底面回波（使用D7906-SM和D7908探頭），測量金屬的實(shí)際厚度和涂層厚度。 |
穿透漆層回波到回波測量模式 | 在兩個(gè)連續(xù)底面回波之間的時(shí)間間隔，不計(jì)漆層或涂層的厚度。 |
單晶探頭測量模式 | 模式1：激勵(lì)脈沖與個(gè)底面回波之間的時(shí)間間隔。 |
厚度范圍 | 0.080毫米～635.00毫米，視材料、探頭表面條件、溫度和所選配置而定。 |
材料聲速范圍 | 0.508 mm/μs～13.998 mm/μs |
分辨率（可選擇） | 低分辨率：0.1毫米 |
探頭頻率范圍 | 標(biāo)準(zhǔn)：2.0 MHz～30 MHz（-3 dB） |
一般規(guī)格
工作溫度范圍 | -10°C～50°C |
鍵區(qū) | 密封、以色彩區(qū)分功能的鍵盤，帶有觸感及聲音反饋。 |
機(jī)殼 | 防撞擊、防水、裝有密封墊的機(jī)殼；機(jī)殼上的接口密封。設(shè)計(jì)符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。 |
外型尺寸（寬 x 高 x 厚） | 總體尺寸：125毫米x211毫米x46毫米 |
重量 | 0.814公斤 |
電源 | AC/DC適配器，24 V；鋰離子電池，23.760 Wh；或4節(jié)AA輔助電池。 |
鋰離子電池供電時(shí)間 | 工作時(shí)間：少12.6小時(shí)，一般14小時(shí)，多14.7小時(shí)。快速充電：2小時(shí)到3小時(shí)。 |
標(biāo)準(zhǔn) | 設(shè)計(jì)符合EN15317標(biāo)準(zhǔn)。 |
顯示 | |
彩色透反VGA顯示 | 液晶顯示，顯示屏尺寸：56.16毫米 X 74.88毫米 |
檢波 | 全波、RF波、正半波、負(fù)半波 |
輸入/輸出
USB | 1.0從接口。 |
RS-232 | 有。 |
存儲卡 | 容量：2 GB外置MicroSD存儲卡。 |
視頻輸出 | VGA輸出標(biāo)準(zhǔn)。 |
內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器
數(shù)據(jù)記錄器 | 38DL PLUS通過標(biāo)準(zhǔn)RS-232串口或USB端口識別、存儲、回放、清除、傳輸厚度讀數(shù)、波形圖像和儀器配置信息。 |
容量 | 475000個(gè)厚度測量讀數(shù)，或20000個(gè)帶厚度值的波形。 |
文件名稱、ID編碼及注釋 | 32位字符的文件名，20位字符的字母數(shù)字位碼，每個(gè)位有四個(gè)注釋。 |
文件結(jié)構(gòu) | 9個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的或自定義的用于特定應(yīng)用的文件結(jié)構(gòu)。 |
| 機(jī)載總結(jié)了數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、帶有位置信息的小值/值、小值回顧、文件比較及報(bào)警。 |
軟件選項(xiàng)
38DLP-OXIDE (U)：使用編碼激活的內(nèi)部氧化層測量軟件。
38DLP-HR (U)：使用編碼激活的高分辨率測量軟件。
38DLP-MM (U)：使用編碼激活的多層測量軟件。
38DLP-HP (U)：使用編碼激活的高穿透（低頻）測量軟件。
選購附件
38DLP/EW (U)：3年保修。
1/2XA/E110 (U)：用于E110-SB EMAT探頭的濾波器適配器。
38-9F6 (U)：RS-232線纜
38-C-USB-IP67 (U)：USB線纜，用于符合IP67標(biāo)準(zhǔn)的密封操作。
38DLP/RFS (U)：腳踏開關(guān)，廠內(nèi)安裝。
HPV/C (U)：數(shù)字式卡尺線纜，用于在測量聲速時(shí)進(jìn)行厚度輸入。
38DLP-V-CC (U)： 數(shù)字式卡尺線纜。
EPLTC-C-VGA-6 (U)：VGA輸出線纜。
MICROSD-ADP-2GB (U)：2 GB外置MicroSD存儲卡。
