- 企業(yè)類型:制造商
- 新舊程度:全新
- 原產(chǎn)地:深圳
華科智源研發(fā)生產(chǎn)半導(dǎo)體測試設(shè)備,提供大功率IGBT到小功率管的測試, 包括動態(tài)參數(shù)和靜態(tài)參數(shù)測試,雪崩能量測試以及熱阻測試, 索取相關(guān)資料和報(bào)價(jià)請聯(lián)系陳先生18
ITC55100是原成功產(chǎn)品ITC5510的升級版本,它能執(zhí)行ITC5510系列的所有測試,同時(shí)增加了許多功能,如提高測試,測試結(jié)果的收集,查看測試結(jié)果,連接多個(gè)被測品。ITC55100可以用來對功率MOSFET和IGBT的耐用性測試。 它還能測試單,雙二極管,使用ITC55 RSF輸出選擇器盒還可以測量IGBT的正向和反向偏置。
itc55100雪崩能量測試儀能力:
- 電流范圍:0.1A to 200A, 0.1A Steps
- 電感范圍:0.01mH~159.99mH
- 雪崩電壓:to 2500V
測試標(biāo)準(zhǔn):
- MIL-STD-750F 2012 Method 3470
itc55100雪崩能量測試儀測試模式
單脈沖松開電感的開關(guān)(UIS)
單脈沖雪崩應(yīng)力(EAS)
重復(fù)性雪崩能量(EAR)
重復(fù)脈沖故障(RPF)
itc55100雪崩能量測試儀執(zhí)行的測試
連續(xù)性測試裝置的插座和/或接觸
DC零柵極偏置漏 - 源泄漏測試
- 前,后的雪崩
功能設(shè)備測試
雪崩測試
特點(diǎn)
單路/雙路設(shè)備測試
N溝道,P溝道,混合
全固態(tài)切換 - 無需繼電器
更快的測試
電流范圍:0.1A至200A,0.1A步驟
雪崩電壓至2500V
觸摸屏程序進(jìn)入/控制
波形捕獲/顯示
內(nèi)部測試程序存儲(20個(gè)文件)
高速電感充電,減少了測試時(shí)間
可編程漏電測試電壓
前置/后置雪崩泄漏測試
雪崩折疊測試
多功能測試處理器控制
15硬件排序箱
改進(jìn)的電壓/電流
通過Flash軟件更新
高速RS-485 PTNet接口
控制參數(shù)輸入密碼
使用所有ITC電感負(fù)載箱
接口與ITC55MUX4 ITC55 RSF
內(nèi)置自我測試
安全特性
測試時(shí)間
過量的泄漏關(guān)閉
外部安全鎖定
兩個(gè)并聯(lián)的手動啟動按鈕
不斷監(jiān)測設(shè)備的電流。 如果電流超過或未能達(dá)到測試終止
指定或計(jì)算時(shí)間的可編程水平。
華科智源研發(fā)生產(chǎn)半導(dǎo)體測試設(shè)備,提供大功率IGBT到小功率管的測試, 包括動態(tài)參數(shù)和靜態(tài)參數(shù)測試,雪崩能量測試廠家深圳市華科智源科技有限公司為您提供美國itc55100雪崩能量測試儀的詳細(xì)產(chǎn)品價(jià)格、產(chǎn)品圖片等產(chǎn)品介紹信息,您可以直接聯(lián)系廠家獲取美國itc55100雪崩能量測試儀的具體資料