SEIFERT XRD Galaxy
射線衍射單晶定向分析儀
產品特點:
單色光掃描系統(tǒng)和固定式多色光勞厄分析系統(tǒng)
用于單晶材料、硅圓、晶錠、渦輪葉片和太陽能光板等的定向分析和檢測
可集成到產線和質量控制流程
可選型號:
XRD Galaxy SCL
采用固定式勞厄分析方法
用于確定硅圓、晶錠、渦輪葉片的取向
可進行點分析或者表面掃描檢測
通過顯微鏡鏡頭和激光進行樣品調整
XRD Galaxy SC
采用衍射的方法掃描分析樣品的取向
可用于確定硅圓、晶錠、渦輪葉片的取向
可進行點分析或者表面掃描檢測
通過顯微鏡鏡頭和激光進行樣品調整