LEPTOSKOP2042涂層測厚儀
LEPTOSKOP2042涂層測厚儀簡介：
　　LEPTOSKOP2042涂層測厚儀具有精準的測量技術(shù)和簡單的操作方法，是的涂層測厚儀。通過解鎖代碼，可以使儀器在現(xiàn)場的升級。
　　LEPTOSKOP2042涂層測厚儀 利用磁感應(yīng)法(DIN EN ISO 2178)測量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法(DIN EN ISO 2360)測量非鐵磁材料上覆蓋的非導電層厚。
　　儀器將一種把測厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統(tǒng)相結(jié)合，同時提供10種可供任意選擇的語言，以滿足客戶的各種需求。
　　LEPTOSKOP2042涂層測厚儀是一種經(jīng)濟的產(chǎn)品，電池壽命長，可以連續(xù)工作100小時以上。儀器記錄工作時間和測量數(shù)量，因此一些重要的參數(shù)可以被保存。
　　彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內(nèi)，可以保護儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。
　　LEPTOSKOP2042涂層測厚儀特點：
　　◆　大圖解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景燈
　　◆　校準選項
　　◆　出廠時已校準，立即可用
　　◆　在未知涂層上校準*
　　◆　校準*
　　◆　在無涂層的基體上一點和多點校準*
　　◆　在有涂層的基體上校準*
　　◆　校準數(shù)據(jù)可以別單獨存儲在的校準檔案中，也可以調(diào)出
　　◆　可選擇的顯示模式，以形式去完成測量任務(wù)*
　　◆　輸入和限*
　　◆　在Windows下有簡單的存儲讀數(shù)檔案管理*
　　◆　可用的電腦軟件STATWIN 2002 和EasyExport
　　◆　統(tǒng)計*
　　◆　可統(tǒng)計評估999個讀數(shù)
　　◆　小值、值、測量個數(shù)、標準偏差和限
　　◆　局部厚度和平局膜層厚度(DIN EN ISO 2808)
　　◆　在線統(tǒng)計，統(tǒng)計值概括
　　3種配置級別以更好的完成測量任務(wù)
　　基本型 – 證明質(zhì)量的基本特征
　　型 - 附加統(tǒng)計評估
　　型 - 統(tǒng)計評估和數(shù)據(jù)存儲
　　如果針對新的測量要求，而需要儀器增加新的功能，可以在任何時候把儀器升級為型和/或型。升級在現(xiàn)場輸入解鎖代碼，“統(tǒng)計”和/或“統(tǒng)計& 數(shù)據(jù)存儲”，便可完成;而不需要把儀器反廠或重新購買新機器。
　　LEPTOSKOP2042涂層測厚儀多探頭選擇：

　　多樣的外部探頭使LEPTOSKOP 2042在困難的條件下，更容易地測量復雜幾何圖形上的涂層厚度    涂層厚度是20mm也是可以的。根據(jù)需求，我們也可以訂做探頭。

技術(shù)參數(shù)：
　　◆　數(shù)輸接口RS232 或　U
　　◆　電源：電池、充電電池、U或外接電源
　　◆　測量范圍: 0 - 20000 um (取決于探頭)
　　◆　測量速度:　每秒測量2個數(shù)值
　　◆　存儲: 多 9999 個數(shù)值，140個文件
　　◆　誤差:
　　涂層厚度 < 100 um: 1% 讀數(shù) +/- 1 um (校準后)
　　涂層厚度 > 100 um: 1-3% 讀數(shù) +/- 1 um
　　涂層厚度 > 1000 um: 3-5% 讀數(shù) +/- 10 um
　　涂層厚度 > 10000 um: 5% 讀數(shù) +/- 100 um
　　LEPTOSKOP2042涂層測厚儀附件：
　　試塊和膜片
　　探頭定位裝置　(適用于微型探頭)
　　定位輔助裝置 (適用于微型探頭)
　　電腦軟件 STATWIN 2002 用于數(shù)輸和對整個目錄結(jié)構(gòu)的便捷管理
　　電腦軟件 EasyExport 用于把單獨的讀數(shù)或文件傳輸?shù)絎indows