| Bitmap |
| 測(cè)量功能 | 三接地電阻，兩交流電阻，干擾電壓 |
| 基本誤差 | 查閱參考溫度范圍，提供一年保修 |
| 測(cè)量速率 | 每秒測(cè)量2次 |
| 電池 | 1個(gè)9伏堿性電池(LR61) |
| 電池電量狀態(tài) | 如果電壓低于6.5 V，則會(huì)顯示LO-BAT（低電量） |
| 電壓 | H/C2和E/C1接頭之間：250 Veff（電壓） |
| S/P2和E/C1接頭之間：250 Veff |
| 氣候類別 | VDE/VDI 3540 RZ（合KWG，每個(gè)DIN 40040，4/87） |
| 溫度性能 | 工作： -10°C至+50°C（+14°F至+122°F） |
| 操作： 0°C至+35°C（+32°F至+95°F） |
| 存儲(chǔ) -20°C至+60°C（+68°F至+140°F） |
| 參考：+23°C&plun;2°C (+73°F&plun;4°F) |
| 溫度系數(shù) | 量程的&plun; 0.1 %，每開氏溫度 |
| | IEC/EN 61010-1，600 V，II類，2級(jí)污染 |
| 尺寸 | 113毫米x 54毫米x 216毫米（(4.5英寸x 2.1英寸x 8.5英寸），包括護(hù)套 |
| 重量 | 850克（1.9磅），包括標(biāo)準(zhǔn)附件，體積約600立方厘米 |
| 注： | 如果不使用測(cè)試儀，或需要長(zhǎng)期存放，請(qǐng)卸下電池并與測(cè)試儀分開存放，以免電池泄露對(duì)測(cè)試儀造成損害。 |
| 注： | 測(cè)試儀的4個(gè)溫度范圍合歐洲標(biāo)準(zhǔn)要求；通過(guò)使用溫度系數(shù)來(lái)計(jì)算工作環(huán)境溫度下的準(zhǔn)確度，儀器可在整個(gè)溫度范圍內(nèi)正常工作。 |
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| 電氣技術(shù)指標(biāo) |
| 偏差： | E1影響因素： 位置 |
| E1偏差影響： 0% |
| E2影響因素： 電壓 |
| E2偏差影響： 0% |
| E3影響因素： 溫度E3 |
| E3偏差影響： 2.30% |
| E4影響因素: 串行干擾電壓(20V) |
| E4偏差影響: 0.60% |
| E5影響因素: 探針和輔助針電阻 |
| E5偏差影響: 10% |
| 測(cè)試電壓 | 3.7 kV |
| 保護(hù)等級(jí) | IP 40；IEC/EN 60529 |
| 電磁兼容性 | 輻射：EC/EN 61326，B類 |
| 擾：IEC/EN 61326，附錄C |
| RE電阻測(cè)量 | 測(cè)量方法 | 使用改進(jìn)的串?dāng)_衰減方法進(jìn)行電流-電壓測(cè)量，無(wú)需補(bǔ)償導(dǎo)線電阻測(cè)量，使用探針（三）或不使用探針（兩），合 IEC/EN 61557-5 標(biāo)準(zhǔn) |
| 開放電路電壓 | 23 至 24 V ac |
| 短路電流 | > 50 mA ac |
| 測(cè)量頻率 | 128 Hz |
| 許可過(guò)載 | 250 Veff |
| 測(cè)量時(shí)間 | 8秒（從按“開始”起計(jì)算的平均值） |
| 限制輸入 | 即使測(cè)試儀關(guān)閉，仍會(huì)保留設(shè)定值（如果電池電量充足） |
| 自動(dòng)切換分辨率 | RH < 7 kΩ |
| 分辨率: 0.01 Ω |
| RH< 50 kΩ |
| 分辨率： 0.1 Ω |
| RH> 50 kΩ |
| 分辨率：0.1Ω |
| 干擾直流和交流電壓顯示 | 電壓： 30 Veff |
| 共模抑制：> 80 dB，50 Hz 和 60 Hz |
| Ri： 680 kΩ |
| 測(cè)量誤差：對(duì)于純交流電和直流電信號(hào)，< 10 % |
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| 量程 |
| 0.15 Ω至20 Ω | 分辨率: 0.01 Ω |
| 顯示范圍：0至19.99Ω |
| 200 Ω | 分辨率： 0.1Ω |
| 顯示范圍：0至19.99Ω |
| 2 kΩ | 分辨率： 0.1Ω |
| 顯示范圍：0至19.99Ω |
| 基本誤差 | &plun;（測(cè)量值的6 % + 5位數(shù)字） |
| 操作誤差IEC 61557 | &plun;（測(cè)量值的18 % + 5位數(shù)字） |
| 注： | [1]包括影響因素E1-E5造成的偏差。 |
| 如果高探針或輔助探針電阻造成的偏差E4高于指定值，即會(huì)閃爍。 |
| 測(cè)量值不在指定的操作誤差范圍內(nèi)。 |
