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XRD
詳細(xì)說明
本公司供應(yīng)納米材料X射線衍射分析質(zhì)量，歡迎咨詢洽談。
納米粉末粒度分布的測定 X射線小角散射法 GB/T 13221-2004
X射線小角散射（SAXS）系發(fā)生于原光束附近至幾度范圍內(nèi)的相干散射現(xiàn)象，物質(zhì)內(nèi)部尺度在1納米至數(shù)百納米范圍內(nèi)的電子密度的起伏是產(chǎn)生這種散射效應(yīng)的原因。利用SAXS技術(shù)可以表征物質(zhì)的長周期、準(zhǔn)周期結(jié)構(gòu)和測定納米粉末的粒度分布，廣泛應(yīng)用于納米尺度的各種金屬、無機(jī)非金屬、聚合物粉末以及生物大分子、膠體溶液、磁性液體等顆粒尺寸分布的測定；也可對各種材料中的納米級孔洞、偏聚區(qū)、析出相等的尺寸進(jìn)行分析研究。其粒度分析結(jié)果在統(tǒng)計上有充分的代表性，其制樣方法相對比較簡單，對顆粒分散的要求也不像其他方法那樣嚴(yán)格。
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