一、產(chǎn)品介紹
實(shí)驗(yàn)內(nèi)容:
l 光纖端面的處理及耦合
l 以光纖為相干光傳輸路徑,搭制馬赫-曾德爾干涉儀,并通過CCD觀察干涉條紋
l 測(cè)量溫度變化對(duì)干涉條紋的影響。
儀器特點(diǎn);
l 通過CCD進(jìn)行圖像采集
l 采用半導(dǎo)體激光器(650nm、4mw)作為光源。
l 采用半導(dǎo)體制冷器進(jìn)行溫度調(diào)整和控制,溫控范圍:100C——400C
設(shè)備成套性:
光學(xué)實(shí)驗(yàn)平臺(tái)、半導(dǎo)體激光器、分束鏡、七個(gè)自由度光纖耦合器、CCD攝像頭+器、光纖、光纖刀、光纖剝皮鉗、半導(dǎo)體溫控儀等。
二、技術(shù)指標(biāo)
光學(xué)實(shí)驗(yàn)平臺(tái)(含桌) 1200*800*80mm3。
半導(dǎo)體激光器635nm, 3mW。
分束鏡(含架)1:1,二維可調(diào)
半導(dǎo)體制冷溫控儀:溫控范圍:100C——400C