本設(shè)備采用的圖像視覺檢測技術(shù)，對電子精密元器件堆件表面進行檢測，主要檢測表面的斑點、凹坑、劃痕等缺陷。系統(tǒng)可根據(jù)設(shè)定指標(biāo)要求自動進行檢測，并對有缺陷部位進行標(biāo)識。
設(shè)備性能特點：
自動完成件動與相機獲取圖像同步；
自動檢測產(chǎn)品表面斑點、凹坑、銅點、劃傷等缺陷；
根據(jù)需要選擇需要檢測的缺陷類型；
根據(jù)需要自主設(shè)定檢測缺陷大小；
對不戶位置進行定位，可控制貼標(biāo)設(shè)備會打印設(shè)備進行標(biāo)識；
對不良品圖像進行自動存礎(chǔ)，可進行歷史查詢；
自動統(tǒng)計。
設(shè)備性能特點：
自動完成件動與相機獲取圖像同步；
自動檢測產(chǎn)品表面斑點、凹坑、銅點、劃傷等缺陷；
根據(jù)需要選擇需要檢測的缺陷類型；
根據(jù)需要自主設(shè)定檢測缺陷大小；
對不戶位置進行定位，可控制貼標(biāo)設(shè)備會打印設(shè)備進行標(biāo)識；
對不良品圖像進行自動存礎(chǔ)，可進行歷史查詢；
自動統(tǒng)計。
