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X-3600供應(yīng)X熒光光譜儀儀,測(cè)硫儀
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X-3600供應(yīng)X熒光光譜儀儀,測(cè)硫儀

產(chǎn)品價(jià)格:
電議
產(chǎn)品型號(hào):
X-3600
供應(yīng)商等級(jí):
企業(yè)未認(rèn)證
經(jīng)營(yíng)模式:
工廠(chǎng)
企業(yè)名稱(chēng):
天津市博智偉業(yè)科技有限公司
所屬地區(qū):
發(fā)布時(shí)間:
2014/4/3 20:13:10

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張磊先生(聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)說(shuō)明是在維庫(kù)儀器儀表網(wǎng)看到的,謝謝)

企業(yè)檔案

天津市博智偉業(yè)科技有限公司

企業(yè)未認(rèn)證營(yíng)業(yè)執(zhí)照未上傳

經(jīng)營(yíng)模式:工廠(chǎng)

主營(yíng)產(chǎn)品:X熒光光譜分析儀;測(cè)金儀;測(cè)硫儀;貴金屬分析儀;RoHS檢測(cè)儀;元素分析儀;鹵素分析儀

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1產(chǎn)品名稱(chēng)及機(jī)型指標(biāo)介紹:

 

1.1.產(chǎn)品名稱(chēng)及型號(hào):貴金屬檢測(cè)儀X-3600

 

1.2.制造商:天津市博智偉業(yè)科技有限公司

 

1.3.X-3600貴金屬檢測(cè)系統(tǒng)包括:X-3600貴金屬檢測(cè)儀一臺(tái),貴金屬分析軟件一套,密度分析軟件一套。

 

1.4.儀器簡(jiǎn)介X-3600型貴金屬檢測(cè)儀是一種體現(xiàn)X射線(xiàn)熒光分析技術(shù)新進(jìn)展的能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀。它采用低功率小型X光管為激發(fā)源,電制冷硅半導(dǎo)體探測(cè)器為探測(cè)單元,再加上我公司專(zhuān)門(mén)開(kāi)發(fā)的應(yīng)用軟件,充分發(fā)揮各部件的優(yōu)異性能,了整臺(tái)儀器的高分辨率及通用適應(yīng)性。任何需要多元素同時(shí)分析的地方,正是它大有作為之處。儀器檢測(cè)能力強(qiáng),分辨率高,適用于各行業(yè)對(duì)不同元素進(jìn)行檢測(cè)。在不同工作環(huán)境下分析范圍從Al(13號(hào)元素)到U(92號(hào)元素)。分析,無(wú)需制樣,測(cè)試時(shí)間從幾秒到幾分鐘可調(diào)。檢測(cè)從PPM級(jí)別到別。

 

1.5.產(chǎn)品圖片

 

 

 

 

 

 

 

X-3600

 

1.6.工作條件

 

工作溫度:15-30℃                           

 

相對(duì)濕度:≤70%                          

 

  源:AC: 220&plun;5V                                    

 

1.7.技術(shù)性能及指標(biāo):

 

1.7.1.分析元素范圍:從鋁(13號(hào)元素)到鈾(92號(hào)元素)

 

1.7.2.元素分析含量范圍:1ppm到99.99%

 

1.7.3.測(cè)量時(shí)間30秒到180秒可調(diào),一鍵式快速測(cè)量3.5秒可出結(jié)果    

 

1.7.4.元素同時(shí)分析能力:26種元素

 

1.7.5.測(cè)量樣品型態(tài):固體,粉末,液體

 

1.7.6.測(cè)量:以黃金樣品為例,高含量樣品(含量在75%以上)誤差&plun;0.1%,低含量樣品(含量在75%以下)誤差&plun;0.3%

 

1.7.7.多次測(cè)量重復(fù)性:可達(dá)0.1

 

1.7.8.測(cè)量次數(shù):任意可調(diào),且在多次測(cè)量時(shí)可做平均值及標(biāo)準(zhǔn)偏差測(cè)量

 

1.7.9.探測(cè)器:美國(guó)AMPTEK原裝Si-Pin探測(cè)器,探測(cè)面積6mm2分辨率149eV

 

1.7.10.X光管:W靶X光管,對(duì)金銀鉑鈀等貴金屬激發(fā)效率更高

 

1.7.11.高壓電源:美國(guó)Spellman原裝高壓電源,功率50W,50kV,1mA

 

1.7.12.密度檢測(cè)系統(tǒng):密度檢測(cè)儀及檢測(cè)軟件一套,可以對(duì)樣品的密度進(jìn)行準(zhǔn)確分析鑒定,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)未知樣品內(nèi)部材料的定性定量分析(本系統(tǒng)具有性

 

1.7.13.鍍層檢測(cè):儀器可對(duì)不同基體上的不同金屬鍍層進(jìn)行多層檢測(cè),并得出準(zhǔn)確結(jié)果(使用者可以根據(jù)需求進(jìn)行二次開(kāi)發(fā))

 

1.7.14.樣品成像定位系統(tǒng):內(nèi)置自感光500萬(wàn)像素?cái)z像頭及的定位軟件,方便樣品的局部定位測(cè)量

 

1.7.15.定量分析方法:基本參數(shù)法,理論Alpha系數(shù)法,經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法,多元回歸法等(國(guó)內(nèi)同行業(yè)采取此類(lèi)綜合計(jì)算方法

 

1.7.16.定性分析方法:元素自動(dòng)尋峰,Kl譜線(xiàn)標(biāo)記法,峰譜比對(duì)法等

 

1.7.17.操作軟件:開(kāi)放的可供客戶(hù)自行開(kāi)發(fā)和升級(jí)的工作軟件,真正實(shí)現(xiàn)費(fèi)用升級(jí),使一機(jī)多能。

 

1.7.18.操作模式:一鍵式操作全電腦控制與人工選擇測(cè)試方法兩種測(cè)試模式,滿(mǎn)足不同測(cè)試單位和測(cè)試人員的要求

 

1.7.19.銀銅位校準(zhǔn):銀,銅位同時(shí)校準(zhǔn),使儀器校準(zhǔn)更加精準(zhǔn),修正工作曲線(xiàn),使測(cè)量結(jié)果(同行業(yè)中采取此校準(zhǔn)方法

 

1.7.20.峰位自調(diào)系統(tǒng):當(dāng)儀器峰位有所偏移時(shí),軟件可自動(dòng)調(diào)試恢復(fù)儀器到正常測(cè)量狀態(tài)(同行業(yè)中采取軟件峰位自調(diào)系統(tǒng)

 

1.7.21.三重系統(tǒng):更換樣品時(shí)X光管自動(dòng)切斷電壓電流;樣品倉(cāng)打開(kāi),X光管快門(mén)自動(dòng)閉鎖;儀器多層屏蔽艙蓋,X射線(xiàn)外溢(同行業(yè)中采取三重系統(tǒng))

 

1.7.22.溫度控制系統(tǒng):內(nèi)部風(fēng)冷水冷雙循環(huán)冷卻,限度降低X光管工作溫度延長(zhǎng)光管使用壽命,且儀器長(zhǎng)時(shí)間工作穩(wěn)定,測(cè)量準(zhǔn)確

 

1.7.23.硬件結(jié)構(gòu):儀器雙箱體結(jié)構(gòu),屏蔽干擾,增加儀器整體穩(wěn)定性

 

1.7.24.樣品倉(cāng):方便大型樣品的檢測(cè)

 

1.7.25.測(cè)試:測(cè)試根據(jù)客戶(hù)要求設(shè)計(jì)

 

1.7.26.長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性:為0.1%;

 

1.7.27.溫度適應(yīng)范圍:為15℃30℃

 

1.7.28.工作電源:交流220&plun;5V(建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源) 

 

2.儀器硬件部分主要配置

 

2.1        Si-PIN半導(dǎo)體探測(cè)器

 

技術(shù)指標(biāo)及功能:   

 

2.1.1.生產(chǎn)廠(chǎng)商:美國(guó)Amptek公司

 

2.1.2探測(cè)器類(lèi)型:電制冷Si-PIN

 

2.1.3探測(cè)面積:6mm2

 

2.1.4硅活化區(qū)厚度:300um

 

2.1.5探測(cè)器分辨率:對(duì)于55Fe,@5.9keV 對(duì)于12us的形成時(shí)間,半高寬為149eV

 

2.1.6探測(cè)器窗口:鈹窗,25um厚

 

2.2   X光管

 

技術(shù)指標(biāo)及功能:

 

2.2.1.低功率X射線(xiàn)管(W靶)

 

2.2.2.使用壽命7000-10000小時(shí)

 

2.2.3.產(chǎn)生X射線(xiàn)激發(fā)源

 

2.3高壓電源

 

技術(shù)指標(biāo)及功能:

 

2.3.1.生產(chǎn)廠(chǎng)商:美國(guó)Spellman公司

 

2.3.2.電壓和電流從至滿(mǎn)量程連續(xù)可調(diào):50KV,1mA

 

2.3.3.電壓調(diào)整率:負(fù)載調(diào)整率:從空載到滿(mǎn)載,電壓變化為滿(mǎn)量程0.01 %

 

2.3.4.線(xiàn)性調(diào)整率:對(duì)于規(guī)定的輸入電壓范圍,該數(shù)值為滿(mǎn)量程0.01%

 

2.3.5.電流調(diào)整率:負(fù)載調(diào)整率:從空載到滿(mǎn)載,電流變化為滿(mǎn)量程0.01%

 

線(xiàn)性調(diào)整率:對(duì)于規(guī)定的輸入電流范圍,該數(shù)值為滿(mǎn)量程0.01%

 

2.3.6.穩(wěn)定性:經(jīng)過(guò)半小時(shí)預(yù)熱后,每8小時(shí)變化不0.05%

 

2.3.7.溫度系數(shù):溫度變化一度,電壓變化不過(guò)0.01%

 

2.4   MCA多道分析器:

 

對(duì)采集來(lái)的信號(hào)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,并將處理結(jié)果傳輸給計(jì)算機(jī)

 

2.5  攝像頭(CCD)   

 

試樣觀(guān)察并儲(chǔ)存樣本圖像

 

2.6  樣品腔     

 

樣品腔尺寸(220mm×200mm×150mm

 

3.整機(jī)硬件技術(shù)規(guī)格:

 

3.1外型尺寸600mm×530mm×330mm

 

3.2可測(cè)試樣品大?。?/span>關(guān)倉(cāng)測(cè)量:220mm×200mm×150mm,開(kāi)倉(cāng)測(cè)量:無(wú)限大

 

3.3儀器重量50公斤

 

3.4工作環(huán)境溫度:0——30℃

 

3.5工作環(huán)境相對(duì)濕度≤70%

 

3.6元素分析范圍鋁(Al)——鈾(U)

 

3.7含量分析范圍1PPM——99.99%

 

3.8測(cè)量時(shí)間:60秒到180秒可調(diào),一鍵式快速測(cè)量3.5秒可出結(jié)果。

 

3.9激發(fā)源低功率X射線(xiàn)管(W靶)

 

3.10高壓電源美國(guó)Spellman原裝高壓電源

 

3.11探測(cè)器美國(guó)Amptek原裝電制冷Si-Pin半導(dǎo)體探測(cè)器

 

3.12儀器分辨率錳元素在5.89keV能量位置的峰,分辨率至少為180&plun;10eV(合中華人民共和國(guó)質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)2008年12月31日發(fā)布2009年7月1日實(shí)施GB/T 新標(biāo)準(zhǔn)對(duì)X射線(xiàn)熒光光譜分析儀:錳元素在5.89keV能量位置的峰,分辨率至少為200eV標(biāo)準(zhǔn)要求)。

 

3.13多道分析器2048

 

3.14工作電源交流 220V 50Hz

 

4.儀器軟件配置

 

軟件功能:

 

軟件可視頻觀(guān)察樣品的放置

 

同時(shí)可分析20多種元素,分析時(shí)間短到30秒-120秒

 

可動(dòng)進(jìn)行定性分析,準(zhǔn)確                      

 

可自動(dòng)對(duì)儀器初始化校準(zhǔn)

 

具有多種光譜擬合分析方法

 

                                                    

 

聯(lián)系方式

天津市博智偉業(yè)科技有限公司

聯(lián)系人:
張磊先生
傳真:
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類(lèi)型:
工廠(chǎng)
地址:
廣東 深圳市羅湖區(qū) 文錦北路文錦廣場(chǎng)文安中心2702

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