用 途
•在光學(xué)冷加工中用于檢驗球面和非球面的質(zhì)量
•測定光學(xué)件或光學(xué)系統(tǒng)的像差，如球差、像散等
•測定凹球面的曲率半徑
•檢驗光學(xué)材料中的缺陷，如條紋，不均勻性等
•光學(xué)系統(tǒng)的檢驗和裝配，用它檢驗各種非球面及大口徑的球面和平面
技 術(shù) 指 標
•相對孔徑：D/F=1：2
•小孔直徑：0.03，0.06，0.08，0.2，0.5，1mm
•狹 縫 寬：0.05，0.15mm
•儀器重量：2KG
•粗調(diào)升降：70mm
•微調(diào)升降：15mm
•移 動 量：縱向橫向各15mm
•讀 書 值：0.01mm
天光光學(xué)儀器有限公司
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