測(cè)量范圍:275-1200C
采用新的微處理器技術(shù),堅(jiān)固的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
沒(méi)有電機(jī)驅(qū)動(dòng)的旋轉(zhuǎn)棱鏡
對(duì)和過(guò)300'C的熱金屬實(shí)現(xiàn)的位置檢測(cè)
采取信號(hào)比較技術(shù)-去除背景紅外噪聲干擾
測(cè)量不受視場(chǎng)內(nèi)局部熱源的影響
測(cè)量同樣不受鏡頭灰塵和現(xiàn)場(chǎng)水汽的影響
掃描視場(chǎng)角度為:1x15、2x22、3x35°可選