溫度沖擊試驗(yàn)箱
型號(hào)：BYR系列
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：溫度沖擊試驗(yàn)箱廣泛用于電子電器組件、自動(dòng)化部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑料等行業(yè)，國(guó)工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量,從精密的IC到重機(jī)械的組件，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
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一、溫度沖擊試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)特點(diǎn)
1、 箱體內(nèi)外部材質(zhì)采用不銹鋼板(SUS#304),外部材質(zhì)有種不同外箱材質(zhì)可供選擇
2、 運(yùn)轉(zhuǎn)中狀態(tài)顯示及曲線顯示,發(fā)生異常狀況時(shí),屏幕上即刻自動(dòng)顯示故障點(diǎn)及原因和提供排除故障的方法,并于發(fā)現(xiàn)輸入電力不穩(wěn)定時(shí),具有緊急停機(jī)裝置
3、 科學(xué)的空氣流通循環(huán)設(shè)計(jì)，使室內(nèi)溫度均勻，避免任何角;的保護(hù)裝置，避免了任何可能發(fā)生隱患，設(shè)備的長(zhǎng)期性
4、 可設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，并于執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí),可選擇二槽式或三槽式及冷沖、熱沖進(jìn)行沖擊之功能，具備高低溫試驗(yàn)機(jī)的功能 。
二、溫度沖擊試驗(yàn)箱試驗(yàn)滿足標(biāo)準(zhǔn)
1.GB/T10592-1989高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件.
2.GB/T2421-1991《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程總則》.
3.GB/T2423.21-1991《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M:低氣壓試驗(yàn)方法》.
4.GB/T2423.25-1992《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》.
三、溫度沖擊試驗(yàn)箱保護(hù)
1、溫保護(hù)裝置；
2、壓縮機(jī)過熱保護(hù)開關(guān)；
3、壓縮機(jī)高低壓保護(hù)開關(guān)；
4、氣源低壓保護(hù)開關(guān)；
5、壓縮機(jī)過電流保護(hù)開關(guān)，
四、溫度沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)
5. 性能指標(biāo) |
|
5.2 測(cè)試方法 | 環(huán)境溫度： +5℃～+30℃ |
5.3.高溫室 | |
5.3.1預(yù)熱溫度范圍 | +60℃～+200℃ |
5.3.2.升溫時(shí)間 | +60℃→+200℃ ≤25min |
5.4.低溫室 | |
5.4.1預(yù)冷溫度范圍 | -65℃ ～ -10℃ |
5.4.2降溫時(shí)間 | +20℃ → -55℃≤55 min |
5.5.試驗(yàn)室（試樣區(qū)） | |
5.5.1. 試驗(yàn)方式 | 氣動(dòng)風(fēng)門切換2溫區(qū)或3溫區(qū)，風(fēng)速調(diào)節(jié) |
5.5.2.RAMP應(yīng)力 篩選 | +125℃～ -40℃ 溫變率：5～30℃/MIN |
5.5.3溫度沖擊范圍 | （+60～+125）℃/（-40～-10）℃ |
5.5.4溫度波動(dòng)度 | ±0.5℃ |
5.5.5溫度偏差 | ±2.0℃ |
5.5.6溫度恢復(fù)時(shí)間 | ≤5min |
五、溫度沖擊試驗(yàn)箱廠家售后服務(wù)
1、設(shè)備送貨上門、安裝調(diào)試、代培操作人員(直到對(duì)方滿意為止)
2、設(shè)備保修一年，享受服務(wù)，非保修期適當(dāng)收取材料成本費(fèi)
3、詳細(xì)規(guī)格以相應(yīng)規(guī)格書為準(zhǔn).規(guī)格可定做。(歡迎致電洽談)
