熱敏參數(shù)是衡量晶體管VBE，β，ICEO 等參數(shù)在常溫和高溫下的變化量，是晶體管的重要特性，受到越來(lái)越多的鎮(zhèn)流器生產(chǎn)廠家重視。因?yàn)殒?zhèn)流器內(nèi)部溫度很高，高溫下晶體管的VBE，β，ICEO 等參數(shù)會(huì)發(fā)生變化，如果變化量過(guò)大，將嚴(yán)重降低產(chǎn)品性。
　　◆常溫下測(cè)量的參數(shù)：放大倍數(shù)β（0～99）
　　開(kāi)關(guān)時(shí)間T（0.01μs～99.9μs），包括上升時(shí)間，存儲(chǔ)時(shí)間，下降時(shí)間Tr，Ts，TF
　　飽和壓降VC（0～2V），正向壓降VBE（0～2V）
　　漏電流ICEO（0.1μA～3mA）
　　耐壓BVCEO（50V～650V）

　　◆高溫下測(cè)量的參數(shù)：β，VBE，ICEO

　　◆對(duì)比常溫和高溫下的兩次測(cè)量結(jié)果，對(duì)β、VBE、ICEO 三項(xiàng)參數(shù)變化量過(guò)范圍的管子以聲光報(bào)警，予以剔除。

　　◆對(duì)T、β進(jìn)行分檔，可顯示批號(hào)；對(duì)VC、VBE、ICEO、BVCEO 及熱敏參數(shù)進(jìn)行限判斷，不合格的聲光報(bào)警，并指示不合格項(xiàng)。

　　◆測(cè)試條件可按要求自由調(diào)節(jié)或設(shè)定
　　A.β測(cè)試β：Ib 注入電流有三檔：0.1mA，1mA，10mA
　　B.開(kāi)關(guān)時(shí)間測(cè)試：IC電流有四檔：0.5A，0.25A，0.1A，0.05A；對(duì)應(yīng) Ib 電流為：0.1A，0.05A，0.02A，0.01A
　　C.對(duì)晶體管加熱條件：
　　加熱電壓：5～20V連續(xù)可調(diào)；加熱電流：0.05～2A連續(xù)可調(diào)；加熱時(shí)間：0～9.9s連續(xù)可調(diào)

　　◆分檔、限判斷可自由設(shè)定，掉電自動(dòng)保存，儀器能夠同時(shí)保存20組數(shù)據(jù)，使用時(shí)只要調(diào)出其中一組即可。
　　◆四窗口數(shù)字顯示所測(cè)數(shù)據(jù)，讀數(shù)直觀，可打印所測(cè)數(shù)據(jù)。