1/8米微型單色儀110
1.尺寸：5-1/4"x 3-1/4"x 3-1/4"
2.RS232電腦通訊接口
3.可裝兩塊光柵，掃描寬光譜范圍
4.出廠設(shè)置為單色儀或光譜攝制儀
5.衍射效率三倍于全息光柵
6.以nanometers，＆Aring；ngstroms，microns，wave-numbers，or eV為單位實現(xiàn)雙向掃描
7.狹縫可調(diào)
8.單色儀可以被設(shè)置為光束右側(cè)輸出或者直行輸出
9.可以應(yīng)用于熒光分析，照度測定，過程控制，色度測定，可變?yōu)V光，拉曼光譜分析，等等
比
1/8米微型單色儀110具有單體結(jié)構(gòu)，直接驅(qū)動光柵，反向后座傳動裝置，這些了1/8米微型單色儀110的高穩(wěn)定性和震性，可應(yīng)用于環(huán)境比較苛刻的領(lǐng)域。由于采用了我公司光學(xué)器件和高質(zhì)量光柵，使得該1/8米微型單色儀110可以完成紫外到紅外波段的光譜分析工作。每一臺1/8米微型單色儀110都進(jìn)行了校準(zhǔn)和檢驗，然后才交付使用，并附帶軟件。
1/4米單色儀240
1.RS232或者IEEE-488電腦通訊接口
2.三光柵轉(zhuǎn)臺，可完成寬光譜范圍掃描
3.出廠設(shè)置為單色儀或光譜攝制儀
4.以恒定的光譜分辨率實現(xiàn)雙向掃描
5.可配備電動濾光輪，自動選擇濾光片
6.可以應(yīng)用于熒光分析，光譜吸收測定，探測器特性研究，薄膜測量，等等
直接數(shù)字驅(qū)動，恒定的分辨率
1/4米單色儀240由計算機(jī)控制操作，光柵掃描控制，電動狹縫，電動濾光輪，控制操作命令簡單易用。1/4米單色儀240可以被設(shè)置為恒定分辨率模式，在該模式下，1/4米單色儀240的狹縫會自動改變，用于補(bǔ)償波長變化所引起的衍射變化，從而獲得恒定的光譜帶寬。
震結(jié)構(gòu)，三光柵轉(zhuǎn)臺，直接驅(qū)動光柵，這些了1/4米單色儀240具有很好的重復(fù)性和穩(wěn)定性。每一臺1/4米單色儀240都進(jìn)行了校準(zhǔn)和檢驗，然后才交付使用的，并附帶軟件。
1/4米雙單色儀242
1.RS232或IEEE488實現(xiàn)計算機(jī)控制自動化，包括控制三個電動狹縫和兩個光柵轉(zhuǎn)盤
2.以恒定的光譜分辨率實現(xiàn)雙向掃描
3.三塊光柵實現(xiàn)高分辨率和寬光譜范圍
4.雙單色儀相加模式可以分辨率、降低雜，尤其適用拉曼光譜分析和熒光分析；雙單色儀相減模式可以避免脈沖光源帶寬的擴(kuò)大
5.配備自動濾光輪，實現(xiàn)濾光片的自動選擇
6.可做單色儀，也可做光譜攝制儀
更高的分辨率，更低的雜
1/4米雙單色儀242采用的是兩臺單色儀并聯(lián)結(jié)構(gòu)，臺單色儀的出射狹縫作為第二臺單色儀的入射狹縫。1/4米雙單色儀242出廠時可以被設(shè)置為相加模式或者相減模式，在這兩種模式下，相當(dāng)于光束經(jīng)過了兩次相同的濾光來消除雜，這樣的效果相當(dāng)于一臺單色儀效果的平方。
1/4米雙單色儀242工作在相加模式下，雜會被明顯降低。臺單色儀將光束進(jìn)行衍射，第二臺單色儀將光束衍射，這樣就可以將分辨率。
1/4米雙單色儀242工作在相減模式下，臺單色儀進(jìn)行波長選擇，第二臺單色儀用來消除臺單色儀光譜散射所引入的時間失真和角度失真。
針對脈沖光源光譜分析，1/4米雙單色儀242的相減模式是不錯的選擇。比如，在脈沖光源產(chǎn)生的光通過普通單色儀的時候，通常會引入250PS的帶寬。但是，采用1/4米雙單色儀242的相減模式的話，第二臺單色儀會對臺單色儀的光路進(jìn)行補(bǔ)償，從而將時間失真基本消除。
針對拉曼光譜分析，1/4米雙單色儀242的相加模式同樣是不錯的選擇。由于1/4米雙單色儀242采用了的光學(xué)結(jié)構(gòu)，雜被明顯的降低，幾乎接近于激光效果。這種優(yōu)勢在紅外和近紅外波段同樣可以表現(xiàn)出來。
1/4米雙單色儀242采用了完善的控制電路，可以自行進(jìn)行內(nèi)部校準(zhǔn)，可以通過計算機(jī)RS232口或者IEEE488口方便實現(xiàn)波長更改，波長掃描，更改掃描速度，選擇光柵和反饋數(shù)據(jù)等功能。
1/2米雙單色儀480
1.RS232或者IEEE-488電腦通訊接口
2.電動狹縫
3.三光柵轉(zhuǎn)臺，可完成寬光譜范圍掃描
4.出廠設(shè)置為單色儀或光譜攝制儀
5.以恒定的光譜分辨率實現(xiàn)雙向掃描
6.可配備電動濾光輪，自動選擇濾光片
7.可以應(yīng)用于熒光分析，光譜吸收測定，探測器特性研究，薄膜測量，等等
1.尺寸：5-1/4"x 3-1/4"x 3-1/4"
2.RS232電腦通訊接口
3.可裝兩塊光柵，掃描寬光譜范圍
4.出廠設(shè)置為單色儀或光譜攝制儀
5.衍射效率三倍于全息光柵
6.以nanometers，＆Aring；ngstroms，microns，wave-numbers，or eV為單位實現(xiàn)雙向掃描
7.狹縫可調(diào)
8.單色儀可以被設(shè)置為光束右側(cè)輸出或者直行輸出
9.可以應(yīng)用于熒光分析，照度測定，過程控制，色度測定，可變?yōu)V光，拉曼光譜分析，等等
比
1/8米微型單色儀110具有單體結(jié)構(gòu)，直接驅(qū)動光柵，反向后座傳動裝置，這些了1/8米微型單色儀110的高穩(wěn)定性和震性，可應(yīng)用于環(huán)境比較苛刻的領(lǐng)域。由于采用了我公司光學(xué)器件和高質(zhì)量光柵，使得該1/8米微型單色儀110可以完成紫外到紅外波段的光譜分析工作。每一臺1/8米微型單色儀110都進(jìn)行了校準(zhǔn)和檢驗，然后才交付使用，并附帶軟件。
1/4米單色儀240
1.RS232或者IEEE-488電腦通訊接口
2.三光柵轉(zhuǎn)臺，可完成寬光譜范圍掃描
3.出廠設(shè)置為單色儀或光譜攝制儀
4.以恒定的光譜分辨率實現(xiàn)雙向掃描
5.可配備電動濾光輪，自動選擇濾光片
6.可以應(yīng)用于熒光分析，光譜吸收測定，探測器特性研究，薄膜測量，等等
直接數(shù)字驅(qū)動，恒定的分辨率
1/4米單色儀240由計算機(jī)控制操作，光柵掃描控制，電動狹縫，電動濾光輪，控制操作命令簡單易用。1/4米單色儀240可以被設(shè)置為恒定分辨率模式，在該模式下，1/4米單色儀240的狹縫會自動改變，用于補(bǔ)償波長變化所引起的衍射變化，從而獲得恒定的光譜帶寬。
震結(jié)構(gòu)，三光柵轉(zhuǎn)臺，直接驅(qū)動光柵，這些了1/4米單色儀240具有很好的重復(fù)性和穩(wěn)定性。每一臺1/4米單色儀240都進(jìn)行了校準(zhǔn)和檢驗，然后才交付使用的，并附帶軟件。
1/4米雙單色儀242
1.RS232或IEEE488實現(xiàn)計算機(jī)控制自動化，包括控制三個電動狹縫和兩個光柵轉(zhuǎn)盤
2.以恒定的光譜分辨率實現(xiàn)雙向掃描
3.三塊光柵實現(xiàn)高分辨率和寬光譜范圍
4.雙單色儀相加模式可以分辨率、降低雜，尤其適用拉曼光譜分析和熒光分析；雙單色儀相減模式可以避免脈沖光源帶寬的擴(kuò)大
5.配備自動濾光輪，實現(xiàn)濾光片的自動選擇
6.可做單色儀，也可做光譜攝制儀
更高的分辨率，更低的雜
1/4米雙單色儀242采用的是兩臺單色儀并聯(lián)結(jié)構(gòu)，臺單色儀的出射狹縫作為第二臺單色儀的入射狹縫。1/4米雙單色儀242出廠時可以被設(shè)置為相加模式或者相減模式，在這兩種模式下，相當(dāng)于光束經(jīng)過了兩次相同的濾光來消除雜，這樣的效果相當(dāng)于一臺單色儀效果的平方。
1/4米雙單色儀242工作在相加模式下，雜會被明顯降低。臺單色儀將光束進(jìn)行衍射，第二臺單色儀將光束衍射，這樣就可以將分辨率。
1/4米雙單色儀242工作在相減模式下，臺單色儀進(jìn)行波長選擇，第二臺單色儀用來消除臺單色儀光譜散射所引入的時間失真和角度失真。
針對脈沖光源光譜分析，1/4米雙單色儀242的相減模式是不錯的選擇。比如，在脈沖光源產(chǎn)生的光通過普通單色儀的時候，通常會引入250PS的帶寬。但是，采用1/4米雙單色儀242的相減模式的話，第二臺單色儀會對臺單色儀的光路進(jìn)行補(bǔ)償，從而將時間失真基本消除。
針對拉曼光譜分析，1/4米雙單色儀242的相加模式同樣是不錯的選擇。由于1/4米雙單色儀242采用了的光學(xué)結(jié)構(gòu)，雜被明顯的降低，幾乎接近于激光效果。這種優(yōu)勢在紅外和近紅外波段同樣可以表現(xiàn)出來。
1/4米雙單色儀242采用了完善的控制電路，可以自行進(jìn)行內(nèi)部校準(zhǔn)，可以通過計算機(jī)RS232口或者IEEE488口方便實現(xiàn)波長更改，波長掃描，更改掃描速度，選擇光柵和反饋數(shù)據(jù)等功能。
1/2米雙單色儀480
1.RS232或者IEEE-488電腦通訊接口
2.電動狹縫
3.三光柵轉(zhuǎn)臺，可完成寬光譜范圍掃描
4.出廠設(shè)置為單色儀或光譜攝制儀
5.以恒定的光譜分辨率實現(xiàn)雙向掃描
6.可配備電動濾光輪，自動選擇濾光片
7.可以應(yīng)用于熒光分析，光譜吸收測定，探測器特性研究，薄膜測量，等等