SH-200系列粒子檢查顯微鏡是配置了研究級(jí)平場(chǎng)消色差金相物鏡，觀察圖像更銳利，圖面平坦度處理更好，圖像還原性好不失真。尤其是在顯微觀察及顯微拍照方面SH-200系列金相顯微鏡更有出色表現(xiàn)，是顯微拍照及視頻觀察理想的金相顯微鏡。SH-200系列金相顯微鏡出色的光學(xué)性能及觀察效果使其在金相試樣、材料分析、樣品微切片、微電子檢查、半導(dǎo)體、晶圓片、LCD及液晶顯示屏檢查等得到廣泛應(yīng)用，是科研及實(shí)驗(yàn)室常用的儀器之一。
　　
　　性能特點(diǎn)：
　　1.SH-200金相顯微鏡采用無(wú)限遠(yuǎn)色差校正光學(xué)系統(tǒng)，圖像質(zhì)量好，分辨率更高，觀察更舒適。
　　2.長(zhǎng)工作距離平場(chǎng)消色差物鏡，對(duì)焦快捷，適用性更廣，圖像更清晰、像面平坦還原性好。
　　3.SH-200金相顯微鏡配備了高眼點(diǎn)平場(chǎng)大視野目鏡（視場(chǎng)數(shù)22mm）。
　　4.照明系統(tǒng)配置了透反射照明器，反射采用LED冷光源，觀察更柔和舒適，壽命更長(zhǎng)。
　　5.光學(xué)系統(tǒng)內(nèi)置可調(diào)節(jié)視場(chǎng)光欄、孔徑光欄，觀察細(xì)微組織結(jié)構(gòu)更清晰、襯度更好。
　　6.照明光路可加入起偏鏡和檢偏可進(jìn)行偏光觀察。
　　
　　應(yīng)用范圍：
　　1.半導(dǎo)體、IC微電路、芯片、LCD液晶、晶圓片
　　2.金屬、礦物試樣，表面缺陷。
　　3.晶體表面紋路。
　　4.半導(dǎo)體封裝檢查。
　　5.透明或不透明工業(yè)試樣

其他說(shuō)明

技術(shù)規(guī)格(標(biāo)準(zhǔn)配置)
目鏡	大視野WF10X(視場(chǎng)數(shù)Φ 22mm)
長(zhǎng)工作距平 場(chǎng)消色差物鏡	LWDPlan5X/0.14  工作距離:20.5 mm
	LWDPlan10X/0.25  工作距離:16.0mm
	LWDPlan20X/0.40  工作距離:7.8mm
	LWDPlan50X/0.55  工作距離:8.0 mm
目鏡筒	30? 傾斜, 瞳距調(diào)節(jié)范圍53~75mm.
調(diào)焦機(jī)構(gòu)	粗微動(dòng)同軸調(diào)焦, 帶鎖緊和限位裝置, 微動(dòng)格值: 1μ m.
轉(zhuǎn)換器	五孔(內(nèi)向式滾珠內(nèi)定位)
載物臺(tái)	雙層機(jī)械移動(dòng)式載物臺(tái), 外形尺寸: 210mmX140mm, 移動(dòng)范圍: 75mmX50mm.
照明系統(tǒng)	反射照明器	低功耗長(zhǎng)壽命3W LED燈,亮度可調(diào)
	照明器	6V30W鹵素?zé)?亮度可調(diào)