臺帶溫度補償功能的測量孔內(nèi)鍍銅厚度的測厚儀CMI511是手持的電池供電的測厚儀。它能于侵蝕工序前、后,測量孔內(nèi)鍍層厚度。的設(shè)計使CMI500能夠勝任對雙層或多層電路板的測量,甚至可以穿透錫和錫/鉛蝕層進行測量。
CMI511的溫度補償特性使其適用于在電鍍過程中進行厚度測量,從而降低廢料、返工成本。
和我們的產(chǎn)品一樣,CM511在售前和售后夠得到牛津儀器的優(yōu)質(zhì)服務(wù)的。
CMI500孔銅測厚儀主要特點
測試蝕刻前后的孔內(nèi)鍍銅厚度
CMI500孔銅測厚儀技術(shù)參數(shù)
ETP孔銅探頭測試技術(shù)參數(shù):
可測試小孔直徑:35 mils(899μm)
測量厚度范圍:0.08–4.0 mils(1–102μm)
電渦流原理:遵守ASTM-E376-96標準的相關(guān)規(guī)定
準確度:±0.01 mil(0.25μm)<1 mil(25μm)
度:1.2 mil(30μm)時,1.0%(實驗室情況下)
分辨率:0.01 mils(0.1μm)