SFT9500的X射線發(fā)生系統(tǒng)是X射線聚光系統(tǒng)（聚光導(dǎo)管）與X射線源相結(jié)合，產(chǎn)生束斑直徑為Φ0.1mm以下度的X射線束，與不采用此技術(shù)時(shí)相比能得到10的強(qiáng)度。所以SFT9500可以對(duì)以往由于X射線照射強(qiáng)度不足而導(dǎo)致無(wú)法得到理想的導(dǎo)線架、接插頭、柔性線路板等微小件及薄膜進(jìn)行測(cè)量。同時(shí)，SFT9500采用了高計(jì)數(shù)率、高分辨率的半導(dǎo)測(cè)器（無(wú)需液氮），在測(cè)量鍍膜厚度的同時(shí)，對(duì)于歐盟的RoHS＆ELV法規(guī)所限制的有害元素的分析測(cè)量也十分。

　　產(chǎn)品介紹
　　SFT9500產(chǎn)品規(guī)格
　　可測(cè)量元素：原子序數(shù)13（Al）～83（Bi）
　　X射線聚光：聚光方式
　　X射線源：管電壓：50kV
　　管電流：1mA
　　檢測(cè)器：Vortex®檢測(cè)器（無(wú)需液氮）
　　樣品觀察：彩色CCD攝像頭（附變焦功能）
　　濾波器：3種模式自動(dòng)切換
　　樣品室：樣品平臺(tái)240（W）×330（D）mm
　　移動(dòng)量X：220mmY：150mmZ：150mm
　　載重量：10kg
　　膜厚測(cè)量軟件：薄膜FP法（多五層，各層十種元素）
　　檢量線法：（單層、雙層、合金膜厚成分）
　　定量分析功能：塊體FP法
　　統(tǒng)計(jì)處理功能：MS-EXCEL®
　　制作：MS-WORD®。