全光譜透過(guò)率檢測(cè)儀采用的光譜測(cè)量技術(shù),可進(jìn)行快速全光譜的透過(guò)率測(cè)量,具有快速、簡(jiǎn)易、準(zhǔn)確等特性。是目前市場(chǎng)上新款、、性價(jià)比的透過(guò)率檢測(cè)儀器。適用于各種光學(xué)元件、平面玻璃、濾光片、IR油墨孔鍍膜鏡片、顯示屏、手機(jī)屏、觸摸面板等產(chǎn)品透過(guò)率測(cè)量。
產(chǎn)品特點(diǎn):
1、 采用光譜測(cè)量技術(shù),快速全光譜透過(guò)率測(cè)量。
2、 實(shí)時(shí)顯示380-1000nm各波段透過(guò)率數(shù)據(jù)跟光譜曲線。
3、 用戶可自定義測(cè)量方案,設(shè)置平均透過(guò)率跟標(biāo)定標(biāo)準(zhǔn)。
4、 可計(jì)算CIE顏色參數(shù),xy、Lab、主波長(zhǎng)、飽和度、色純度等參數(shù)。
5、 測(cè)試軟件,可根據(jù)實(shí)際操作需求設(shè)定、儲(chǔ)存及打印列表資料。
技術(shù)參數(shù)
型號(hào) | JY-T02 |
光譜范圍 | 380-1000nm |
分辨率 | 1nm |
顯示 | 0.001% |
重復(fù) | ≤1 % |
測(cè)量速度 | ≤1s |
小測(cè)量孔徑 | |
光源 | 鹵素?zé)?/span> |