用途:廣泛應用于器件,工業(yè)上線路板,多層線路板,半導體IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測。
一、型號:MC–50-P
二、規(guī)格:
內(nèi)箱尺寸:1000×1000 mm(φ×D)圓形試驗箱。
外箱尺寸:1350×1250×1300 mm(W×H×D)。
內(nèi)箱材質(zhì):SUS 304#不銹鋼板材質(zhì)。
三、性能:操作環(huán)境需在室溫30℃以下且通風良好之條件下進行。
1.溫度范圍:121℃/132℃。(飽和蒸氣溫度)。
2.濕度范圍:100%RH.(飽和蒸氣濕度)。
3.壓力范圍:0.00Kg/cm2~2.00Kg/cm2表壓力;(壓力容量3.5Kg/cm2)。
4.時間范圍:0~999小時可調(diào)。
5.溫度分布:(+/-)2.0℃%。。
6.升溫時間:RT~132℃約35分鐘內(nèi)。
7.加壓時間:0.00Kg/cm2~2.00Kg/cm2約40分鐘內(nèi)。
四、電源:AC220V 50/60Hz 15A 3.8kw
五、機臺重量:約500KG
注:我公司另備有詳細資料,歡迎索取。