※激振力:正弦3000N;隨機(jī)2400N
※頻率范圍:5Hz~4000Hz可做定頻、往返掃頻、正弦波、隨機(jī)波。
※掃頻方式:線性、對數(shù)、正反掃、定頻
※掃頻次數(shù):1-32767次。
※掃頻時間:定頻/單次掃頻為1-3600min,并可顯示各種掃頻曲線。
※振動部件質(zhì)量:動圈重量3.0kg
※空載:120kg
※振動方向:垂直+水平
※振動波形:正弦波、隨機(jī)波、可在屏幕上觀察控制譜形、波形及信號動態(tài)范圍
【三綜合試驗箱儀表裝置】
※EZT-570i觸摸控制器帶有7"或10"觸摸屏,采用環(huán)境試驗箱操作編程的新技術(shù),操作簡便。帶有數(shù)據(jù)記錄,以太網(wǎng)控制&監(jiān)測,數(shù)據(jù)備份功能,可以通過U存儲器或計算機(jī)訪問數(shù)據(jù)文件,通過電子郵件或短信息發(fā)送報警通知,完善的系統(tǒng)保護(hù)功能,提供在線和多語言語音幫助
※具有產(chǎn)品高低溫溫保護(hù)和報警功能,可以保護(hù)被測樣品
【三綜合試驗箱設(shè)備滿下標(biāo)準(zhǔn)】
※GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備參數(shù)檢定方法(溫度試驗設(shè)備)
※GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程(試驗A低溫試驗方法)
※GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程(試驗B高溫試驗方法)
※GB/T2423.3-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程(濕熱試驗方法)
※G150.3-86設(shè)備環(huán)境試驗方法(高溫試驗)
※G150.4-86設(shè)備環(huán)境試驗方法(低溫試驗)