UVIKON XS數(shù)字化紫外分光光度計
主要性能特點
1、個以的數(shù)字信號處理技術(shù)(ADSP)為特點的分光光度計
2、UVIKON XS是法國SECOMAM公司研制的產(chǎn)品,在當(dāng)今世界的同類產(chǎn)品中處于明顯。
3、100%對稱的雙光束技術(shù)測得數(shù)據(jù)的和穩(wěn)定性
4、旋轉(zhuǎn)式反射鏡---斬波器系統(tǒng)濃度很高的樣本也能測得的數(shù)據(jù)
5、ADSP可以獲得的數(shù)據(jù),高的靈敏度水平使儀器即使在高的OD值下仍可進行線性測試,并且運行噪聲低.UVIKON XS和Windows兼容,易于操作的Labpower Junior軟件包共同使用,可支持每日進行的常規(guī)測試.
6、的光學(xué)系統(tǒng)
6.1真正的對稱式雙光束光學(xué)系統(tǒng),每一光束有6個反射面。
6.2采用1300線/mm全息激發(fā)光柵，衍射Zeiss單色器
6.3高敏光電二管，旋轉(zhuǎn)式斬波器為樣本光束和參比光束提供100%能量，暗電流修正。
6.4外置電源支架可為光學(xué)架隔熱，并使整個光學(xué)系統(tǒng)免于被氚燈放射出來的臭氧污染。
6.5光學(xué)系統(tǒng)底座的定位偏差為0.01mm/m.
6.6封閉的光學(xué)系統(tǒng)不會受到空氣中灰塵和各種揮發(fā)性化合物的污染。
主要技術(shù)指標(biāo)
波長范圍 | 190-1100nm |
波長步長 | 0.05-10nm |
掃描速度 | 5-2000nm/min |
變換速度 | 5000nm/min |
光譜帶寬 | 1.8nm(固定) |
波長準(zhǔn)確性(氧化鈥峰值,10nm/min,每步0.5nm) | &plun;0.3nm |
波長(氧化鈥峰值,7000nm/min) | &plun;0.03nm |
基線平整性(每步1nm,200nm/min 200-800nm) | ＜&plun;1mAbs |
雜(Nal(10g/l),220nm,1.8nm,1sec) | ＜0.03%/T |
線性(250nm,1.8nm,1sec,r0.999) | 3.0Abs |
吸光度范圍 | &plun;3.5Abs |
吸光度準(zhǔn)確性(1Abs NIST,1sec,590nm) | &plun;3mAbs |
吸光度(1Abs NIST,1sec,590nm) | &plun;0.5mAbs |
噪聲(580nm,ASTM E685,1sec) | ＜30uAbs |
,580nm,1.8nm,1sec) | ＜0.1mAbs/h |
響應(yīng)時間 | 0.02-5sec |
光源 | 氚燈和鹵鎢燈 |
單色器 | 量低雜光,衍射光柵1300線/mm,焦距175mm |
體積 | 長680mm×寬565mm×高275mm |
重量 | 凈重35公斤 |
電源 | 100/240V Ac &plun;10%50/60Hz |
功率損耗 | 200VA |
