THK-L高低溫低氣壓測(cè)試箱是根據(jù)用戶要求并參照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)、制造。主要用于航空、航天、電子、國(guó)、科研和其它工業(yè)部門確定電工電子產(chǎn)品（包括元器件、材料、新能源和儀器儀表），用于模擬產(chǎn)生溫度、濕度與低氣壓的綜合環(huán)境，也可以模擬產(chǎn)生單獨(dú)的高溫、低溫、濕度及低氣壓環(huán)境。對(duì)試品施加溫濕度和耐高低壓綜合環(huán)境，以便對(duì)試品的性能和品質(zhì)作出進(jìn)一步評(píng)價(jià)。
　　
　　THK-L系列步入式真空試驗(yàn)倉(cāng)具有以下優(yōu)點(diǎn)：
　　A、結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單合理，制造工藝規(guī)范，后期運(yùn)行故障低；
　　B、部件采用品牌，性能穩(wěn)定；
　　C、操作簡(jiǎn)單大，人性化交流界面；
　　D、技術(shù)服務(wù)團(tuán)隊(duì)，售后。
　　
　　標(biāo)準(zhǔn)型-技術(shù)方案由以下部分組成：
　　部分：技術(shù)參數(shù)-滿足性能指標(biāo)部分
　　第二部分：結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)-構(gòu)造結(jié)構(gòu)材質(zhì)部分
　　第三部分：測(cè)控系統(tǒng)-測(cè)控方式控制部分
　　第四部分：保護(hù)-保護(hù)控制部分
　　第五部分：售后服務(wù)-售后服務(wù)部分
　　第六部分：配置清單-主要配置清單部分
　　
　　部分：技術(shù)參數(shù)-滿足性能指標(biāo)部分
　　1.設(shè)備型號(hào)：THK-L（高低溫低氣壓測(cè)試箱）；
　　2.工作室尺寸：600X700　X800　mm（深X寬X高）；
　　3.溫度范圍：-40～100℃；
　　4.壓力范圍：常壓～600　PA；
　　5.溫度波動(dòng)：±0.5℃；
　　6.溫度偏差：±2.0℃；
　　7.升溫時(shí)間：30℃～180℃≤60　min；
　　8.降溫時(shí)間：30℃～-40℃≤60　min；
　　9.降壓時(shí)間：常壓～600PA≤80　min；
　　10.控制方式：編程/定值運(yùn)行；
　　11.電源功率：AC　380V/50Hz±10%，25.0Kw；
　　12.安裝環(huán)境：設(shè)備周圍無(wú)強(qiáng)烈振動(dòng)、無(wú)強(qiáng)電磁場(chǎng)干擾、無(wú)高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)、無(wú)易燃易爆物品、無(wú)陽(yáng)光直接照射或其它熱源直接輻射，設(shè)備應(yīng)水平放置于通風(fēng)良好的試驗(yàn)室內(nèi)，周圍應(yīng)留有充足的空間供操作及維護(hù)之用；
　　13.考核環(huán)境：在標(biāo)準(zhǔn)大氣壓下滿足室溫≤25℃，相對(duì)濕度≤85%R.H，工作室空載，恒定兩小時(shí)?！?