X-熒光鍍層測厚儀CMI900／950金屬鍍層厚度的測量
　　CMI　900／950系列X射線熒光測厚儀是一種大的材料涂／鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂／鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準確、快速的分析。基于Windows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink　FP應(yīng)用軟件包，實現(xiàn)了對CMI900／950主機的自動化控制。
　　
　　技術(shù)參數(shù)：
　　CMI　900　X-射線熒光鍍層厚度測量儀，在技術(shù)上一直以來都于的測厚行業(yè)
　　A、CMI　900能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體，薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定多5層、15種元素。
　　B、度于世界，到0.025mil（相對與標(biāo)準片）
　　C、數(shù)據(jù)統(tǒng)計功能允許用戶自定義多媒體分析格式，以滿足您特定的分析格式要求；
　　如在分析中數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
　　D、統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、值、小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL（控制上限）、LCL（控制下限）、CpK圖、直方圖、X-bar／R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。CMI900／950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
　　E、可測量任一測量點，小可達0.025x0.051毫米
　　
　　樣品臺選擇：
　　CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用。