X-熒光鍍層測(cè)厚儀CMI900金屬鍍層厚度的測(cè)量
CMI 900系列X射線熒光測(cè)厚儀是一種大的材料涂/鍍層測(cè)量?jī)x器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等領(lǐng)域,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確、快速的分析?;赪indows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版 SmartLink FP 應(yīng)用軟件包,實(shí)現(xiàn)了對(duì)CMI900主機(jī)的自動(dòng)化控制。