CMI900X射線熒光鍍層測厚儀,有著非破壞,非接觸,多層合金測量,高生產(chǎn)力,高再現(xiàn)性等優(yōu)點的情況下進行表面鍍層厚度的測量,從質量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應用。
行業(yè)
用于電子元器件,半導體,PCB,汽車部件,功能性電鍍,裝飾件,連接器多個行業(yè)表面鍍層厚度的測量。
主要規(guī)格規(guī)格描述
X射線激發(fā)系統(tǒng)垂直上照式X射線光學系統(tǒng)空冷式微聚焦型X射線管,Be窗
標準靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等
功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)
◆標準
裝備有射線光閘
二次X射線濾光片:3個位置程控交換,多種材質、多種厚度的二次濾光片任選
準直器程控交換系統(tǒng)多可同時裝配6種規(guī)格的準直器。
樣品室
◆樣品室結構開槽式樣品室
◆樣品臺尺寸610mmx610mm
◆XY軸程控移動范圍標準:152.4x177.8mm還有5種規(guī)格任選
◆Z軸程控移動高度43.18mm
◆XYZ三軸控制方式多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
◆樣品觀察系統(tǒng)高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng),標準放大倍數(shù)為30倍。(50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。)
激光自動對焦功能
可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
樣品種類:鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)
可檢測元素范圍:Ti22–U92??赏瑫r測定5層/15種元素/共存元素校正。