目前的機(jī)臺(tái)有二代及三代的機(jī)臺(tái),外觀上大致相同;而且二代機(jī)臺(tái)也有進(jìn)行升級(jí),所以功能和三代一樣;不同地方為操作系統(tǒng)的不一樣,三代中有些操作系統(tǒng)為WIN 2000,其它為UNIX 操作系統(tǒng);但測(cè)試操作接口是相同的,不會(huì)有太大差異。
I測(cè)試機(jī)器分為三大部份:
▲Testhead:I測(cè)試機(jī)臺(tái)部份
▲Computer:計(jì)算機(jī)部份
▲Support Bay:電源箱部份
測(cè)試機(jī)臺(tái)架有測(cè)試治具,由氣壓(air)閥把治具鎖在機(jī)臺(tái)上;測(cè)試時(shí)由使用真空(Vacuum)抽取治具內(nèi)的空氣;使治具上下板的測(cè)試針,扎到板上的測(cè)試點(diǎn)上;由機(jī)臺(tái)內(nèi)的控制卡在控制測(cè)試。
其測(cè)試功能有如使用數(shù)千個(gè)三用電表在測(cè)試,但不同處在于使用OP AMP反相放大電路來(lái)量測(cè),除open、short testing外并且可測(cè)試電路板上單一件;另外可以由電源箱提供電源,上電至待測(cè)板上;進(jìn)行數(shù)字測(cè)試。