高發(fā)光二管測試儀是我公司在研究歐美多種半導(dǎo)體材料檢測技術(shù)的基礎(chǔ)上開發(fā)的LED測試儀。數(shù)據(jù)采集電路由美國英特爾（INTEL）公司的微控制內(nèi)核芯片、美國德州儀器（TI）公司的A／D與D／A轉(zhuǎn)換芯片及高的恒流與恒壓電路構(gòu)成，能控制和檢測0.001V和0.1uA大的微小電壓和電流變化；測試過程和數(shù)據(jù)處理采用計(jì)算機(jī)控制，是采用WindowsXP平臺(tái)的測試儀，度大用單片機(jī)或者DOS系統(tǒng)控制的普通檢測儀，測量LED時(shí)更能體現(xiàn)其高度、高穩(wěn)定度的優(yōu)勢；全中文的windows程序和圖形化的人機(jī)界面，使用直觀、方便，不能測試效率，還能根據(jù)計(jì)算機(jī)顯示的IF−VF波形圖對(duì)被測材料作的特性分析，是目前國內(nèi)一款能真正檢測LED LAMP材料閘流體效應(yīng)并顯示其特性曲線的排測機(jī)；本測試儀采用了本公司歷經(jīng)數(shù)年開發(fā)的擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的檢測軟件和新研制的1uA—100mA數(shù)控精密恒流電路，其和穩(wěn)定性均居業(yè)界水平，不能滿足LED生產(chǎn)廠家現(xiàn)有的生產(chǎn)需求，還能適應(yīng)將來的發(fā)展要求。
　　本機(jī)適用于每支支架20、30顆的共陽或共陰LED LAMP半切材料的小電流壓降、大電流壓降、漏電流、閘流體效應(yīng)的檢測，還可進(jìn)行1-50級(jí)調(diào)節(jié)的全點(diǎn)亮目測外觀、反向電壓沖擊試驗(yàn)。在測試方式上有排測和單個(gè)測試兩種方式，檢測到不良二管時(shí)用醒目的圖標(biāo)顏色和聲音指示
　　技術(shù)規(guī)格
　　
　　（1）小電流壓降（VFL）量程：0.001-10.0V
　?。?）大電流壓降（VFH）量程：0.001-10.0V
　　（3）反向漏電流（IR）量程：1-120UA
　?。?）VFL電流源：10UA-1000UA可調(diào)
　?。?）VFh電流源：1MA-100MA可調(diào)
　　（6）IR電壓源：0.1-10.0V 可調(diào)
　?。?）VR電流源：1-100uA可調(diào)
　　（8）閘流體電流源：0-500uA
　?。?）閘流體電壓源：0-10.0V
　?。?0）全點(diǎn)亮系數(shù)：-50 50級(jí)可調(diào)（靜態(tài)、動(dòng)態(tài)）
　　（11）電流沖擊：1-100MA，1-255毫秒可調(diào)
　?。?2）顯示方式：20顆材料三組數(shù)據(jù)同步顯示
　　（13）顯示：4位（V）3位（uA）
　?。?4）電壓分辨率：0.001V
　　（15）電流分辨率：0.1uA
　?。?6）機(jī)軟件：全中文WindowsXP界面操作程序
　　（17）機(jī)硬件：IBM兼容PC或工控計(jì)算機(jī)
　?。?8）數(shù)據(jù)采集板：Intel微指令程控高保護(hù)電路
　?。?9）電源供給：160V-240V 50Hz
　　
　　注意：測試系統(tǒng)須接地！