AFT新一代便攜式電路板在線維修測(cè)試儀, 是一種通用的電路板故障檢測(cè)儀器,可以無(wú)圖紙資料情況下,直接在線測(cè)試電路板上集成電路的好壞,測(cè)試范圍包含常見(jiàn)的數(shù)字邏輯集成電路,集成運(yùn)算放大器,光耦,通訊接口類集成電路,電壓比較器,驅(qū)動(dòng)器等芯片,AFT便攜式電路板維修測(cè)試儀是您開(kāi)展無(wú)圖紙電路板維修的得力助手!
ASA(VI)曲線采集對(duì)比測(cè)試
一、ASA（VI）測(cè)試技術(shù)原理
ASA檢測(cè)技術(shù)是一種不依據(jù)電路板工作原理實(shí)現(xiàn)對(duì)電路板的器件級(jí)檢測(cè)方法。它實(shí)際上是目前常用萬(wàn)用表電阻檢測(cè)法的自然擴(kuò)展.
萬(wàn)用表故障檢測(cè)法通常是這樣的：先測(cè)出好板上元器件(含集成電路)管腳（實(shí)際是電路結(jié)點(diǎn)）的電阻、然后與故障板上相應(yīng)元器件(含集成電路)管腳的電阻進(jìn)行比較，根據(jù)兩者差異大小來(lái)判斷該結(jié)點(diǎn)上有無(wú)故障。
萬(wàn)用表只能檢測(cè)在一個(gè)電壓（表內(nèi)電池電壓）下的電阻值，而半導(dǎo)體器件引腳的電阻是隨測(cè)試電壓的變化而變化的,具有非線性特征,不同測(cè)試電壓下的電阻未相同。
設(shè)想有上百塊萬(wàn)用表，每塊表的電池電壓一樣,對(duì)每一個(gè)管腳，同時(shí)用這些表對(duì)照測(cè)試一遍，檢查在器件的整個(gè)工作電壓區(qū)間內(nèi)的阻是否發(fā)生了變化?這種測(cè)試方式大大了故障檢出率!
如果電壓為橫坐標(biāo)，電流為縱坐標(biāo)，把上百個(gè)測(cè)試點(diǎn)的數(shù)據(jù)表示在這個(gè)坐標(biāo)系上，就得到一條電阻曲線——叫做ASA曲線(或VI曲線)。比較好板和壞板相應(yīng)節(jié)點(diǎn)的曲線是否重合，從而判斷該節(jié)點(diǎn)上是否有故障——這就是ASA測(cè)試技術(shù)的基本原理。
二、ASA（VI）測(cè)試技術(shù)特點(diǎn)
1．不涉及電路原理圖，無(wú)需電路處于工作狀態(tài)；
2． 測(cè)試時(shí)不用給電路板(或被測(cè)IC)通電；
3． 不涉及被測(cè)元器件的功能，無(wú)論是數(shù)字的、模擬的、數(shù)?；旌系?、功能已知的、未知的等等，均可測(cè)試；
4． 它是逐電路結(jié)點(diǎn)（按器件管腳）進(jìn)行測(cè)試的，基本上不受元器件封裝的限制。
三、距離感受常見(jiàn)元器件的VI曲線
1．電阻
I=U/R說(shuō)明在電阻負(fù)載上，電壓和電流是線性關(guān)系。顯示在VI平面上，就是一條過(guò)點(diǎn)的斜線。其斜率大小表示阻值。
2．二管
當(dāng)v沿正向增加時(shí)，電流按指數(shù)規(guī)律上升；v當(dāng)向負(fù)向增加時(shí)，i基本等于負(fù)的反向飽和電流。為一常數(shù)。二管的VI曲線如下：
3．電容
4．電阻并二管
5．二管并反向二管
6．電阻電容并聯(lián)
AFT-201測(cè)試儀VI曲線實(shí)測(cè)效果圖：
四、AFT-201上的ASA技術(shù)特色
1、TOOLTIPS技術(shù)的應(yīng)用，即鼠標(biāo)指向當(dāng)前測(cè)試點(diǎn)后，提示出測(cè)試電壓和電流值
2、雙探棒對(duì)比測(cè)試，曲線在坐標(biāo)上可以重合或錯(cuò)位顯示
3、能夠自動(dòng)匹配靈敏曲線
為了得到較高靈敏度的曲線，一般要調(diào)整測(cè)試信號(hào)的輸出電阻。普通測(cè)試儀只能手動(dòng)選擇曲線的輸出阻，這樣很麻煩，另外當(dāng)曲線形狀不規(guī)則時(shí)，往往很難直觀判斷什么樣的曲線靈敏度更高一些；AFT-201測(cè)試儀能夠自動(dòng)調(diào)整測(cè)試信號(hào)的輸出電阻,類似于萬(wàn)用表的自動(dòng)電阻檔；
大量的維修實(shí)踐表明，VI曲線的整體走勢(shì)越接近45度，反映故障的靈敏度越高； 如同使用指針式萬(wàn)用表,指針越接近位置，反映故障越靈敏;
4、具有電路板圖像建庫(kù)測(cè)試平臺(tái)
支持按設(shè)備、子設(shè)備、電路板多級(jí)建庫(kù)方式,對(duì)維修工作的管理!
可以在電路板照片上把任意節(jié)點(diǎn)的數(shù)據(jù)特征采集下來(lái)，并儲(chǔ)存到計(jì)算機(jī)上，為以后對(duì)比測(cè)試提供便利;支持測(cè)試夾建庫(kù)方式,大大測(cè)試效率!
可實(shí)現(xiàn)圖文并茂的板導(dǎo)航、器件導(dǎo)航、管腳導(dǎo)航信息管理，便于積累維修經(jīng)驗(yàn)，實(shí)現(xiàn)經(jīng)典共享！
能夠自動(dòng)生成測(cè)試記錄，輕松復(fù)現(xiàn)故障檢測(cè)現(xiàn)場(chǎng)
支持電路板庫(kù)版權(quán)管理。
一個(gè)電路板庫(kù)的質(zhì)量，對(duì)后期的檢測(cè)效率、故障檢出率影響很大。但建立一個(gè)高質(zhì)量的電路板庫(kù)，通常需要花費(fèi)大量的精力；為了保護(hù)用戶的建庫(kù)權(quán)益，AFT-201測(cè)試儀可以生成一個(gè)享有版權(quán)的庫(kù)文件，方便上市交易，即可以授權(quán)（或出售）給其它用戶使用.
5、器件離線建庫(kù)測(cè)試平臺(tái)
不論是單個(gè)元器件的故障檢測(cè)，還是來(lái)料元器件的質(zhì)量篩選，AFT-201測(cè)試儀所具有的器件離線建庫(kù)測(cè)試都是當(dāng)今檢測(cè)元器件簡(jiǎn)便經(jīng)濟(jì)的檢測(cè)手段之一；
AFT-201測(cè)試儀內(nèi)置集成電路VI特性曲線編輯器，能夠快速擴(kuò)充集成電路VI曲線標(biāo)準(zhǔn)庫(kù)，為集成電路的測(cè)試或篩選工作提供了方便；
AFT-201測(cè)試儀內(nèi)置40路測(cè)試通道, 能夠快速實(shí)現(xiàn)對(duì)各類集成電路的采集和對(duì)比測(cè)試; 通道屬性為雙屬性,支持對(duì)IC的多端叉掃描測(cè)試模式;支持常見(jiàn)集成電路的封裝,如DIP、SOP、SSOP、PLCC、QFP、LQFP等;
支持動(dòng)態(tài)選擇接地管腳;能夠識(shí)別和處理不穩(wěn)定曲線
不穩(wěn)定曲線是指:由于被測(cè)電路本身的原因，導(dǎo)致在同樣的測(cè)試條件下，每次測(cè)到的曲線相同,這樣就容易對(duì)一些好的器件造成誤判;
導(dǎo)致不穩(wěn)定曲線的原因主要有以下三種：
a．自激導(dǎo)致的不穩(wěn)定
電路結(jié)點(diǎn)的電特征千差萬(wàn)別，ASA測(cè)試將一個(gè)正弦波注入電路結(jié)點(diǎn)，某個(gè)結(jié)點(diǎn)正好在這個(gè)頻率下出現(xiàn)自激是可能的;自激曲線的現(xiàn)象是大面積散點(diǎn)，并且沒(méi)有終的穩(wěn)定狀態(tài)。更換測(cè)試信號(hào)頻率即可消除。
b．過(guò)渡過(guò)程導(dǎo)致的不穩(wěn)定
當(dāng)結(jié)點(diǎn)的充、放電常數(shù)相差較大時(shí)所導(dǎo)致。這種曲線的現(xiàn)象是當(dāng)反復(fù)測(cè)試時(shí)，曲線逐步向一個(gè)穩(wěn)定狀態(tài)靠近，有一個(gè)終的穩(wěn)定狀態(tài)。
c．測(cè)試MOS器件時(shí)的不穩(wěn)定
導(dǎo)致這種不穩(wěn)定的原因是器件中的MOS晶體管隨測(cè)試信號(hào)上升、下降的開(kāi)關(guān)過(guò)程不同。
這種不穩(wěn)定的現(xiàn)象是曲線上下跳，似乎是兩條穩(wěn)定曲線輪流出現(xiàn)一樣。測(cè)試時(shí)只要把器件的電源腳和地腳都接地即可消除。
支持按不同管腳設(shè)置不同的測(cè)試參數(shù)
VI 曲線測(cè)試參數(shù)是指信號(hào)的幅度、輸出阻、頻率等。
并非同一個(gè)器件的管腳都適用于同樣的測(cè)試參數(shù)。舉個(gè)典型的例子：集電開(kāi)路器件的輸出往往耐壓較高，多用于驅(qū)動(dòng)數(shù)碼管、繼電器等，而輸入一般是標(biāo)準(zhǔn)電平，所以對(duì)于輸出、輸入的測(cè)試信號(hào)的幅度應(yīng)該不同，才能檢測(cè)的目的。
AFT-201測(cè)試儀為一些的集成電路(或測(cè)試情況)提供了個(gè)性化的解決方案，能夠按不同的管腳設(shè)定不同的參數(shù);
二管(DIODE)測(cè)量及對(duì)比測(cè)試
DIODE測(cè)試不是指單純測(cè)試一個(gè)二管，而是借鑒萬(wàn)用表二管檔測(cè)量技術(shù)來(lái)檢測(cè)電路板上元器件的好壞； AFT-201測(cè)試儀不能實(shí)現(xiàn)單獨(dú)檢測(cè)一個(gè)電路節(jié)點(diǎn)的二管導(dǎo)通電壓,而且還能輕松實(shí)現(xiàn)雙探棒對(duì)比測(cè)試;
利用二管擋對(duì)比檢測(cè)電路板上元器件的故障，是維修中比較常用的檢測(cè)手段之一。尤其在測(cè)試有容性、感性的節(jié)點(diǎn)時(shí)，二管擋的測(cè)試相對(duì)VI測(cè)試尤為敏感,此手法是對(duì)VI曲線測(cè)試的一個(gè)很有利的補(bǔ)充;
支持存儲(chǔ),方便以后對(duì)比測(cè)試
LCR測(cè)試
1、電容測(cè)試
在實(shí)際應(yīng)用中，電容器并不是一個(gè)純電容，其內(nèi)部還有等效電阻，如R（等效串聯(lián)電阻）、EPR（等效并聯(lián)電阻），也就是我們通常說(shuō)的漏電電阻；
一個(gè)實(shí)際電容通?？梢缘刃缦码娐罚?/span>
容量達(dá)標(biāo)（在標(biāo)稱值范圍內(nèi)）的電解電容，它的R和EPR未合格，所以，實(shí)際中會(huì)出現(xiàn)測(cè)試容量沒(méi)問(wèn)題，而上機(jī)卻不能正常使用的情況。在這三個(gè)參數(shù)中，R和制造工藝密切相關(guān)。測(cè)試、電容，從容量和EPR上往往觀察不到明顯差異，其差異常體現(xiàn)在R的不同上。
能夠在線測(cè)量電容的容量
EPR測(cè)試能指定工作電壓
EPR反映電容的漏電大小。EPR越大，漏電越小，所以EPR的值越大越好。EPR隨容量增加略有減小，但通常應(yīng)在兆歐姆以上。另外，故障電容的漏電大小有時(shí)還和測(cè)試電壓相關(guān)——在小電壓下不漏電，增加測(cè)試電壓到程度漏電突然激增，所以，測(cè)試EPR的電壓不低于其實(shí)際工作電壓。
2、電感測(cè)試
3、電阻測(cè)試
能夠在線測(cè)量電阻阻值
4、小電阻測(cè)試
集成電路功能測(cè)試/性能參數(shù)測(cè)試
AFT-201測(cè)試儀支持對(duì)常見(jiàn)數(shù)字邏輯器件、運(yùn)算放大器、光耦等集成電路的功能測(cè)試，對(duì)部分器件可以進(jìn)行性能參數(shù)(負(fù)載能力等)測(cè)試;器件庫(kù)可以應(yīng)客戶的要求進(jìn)行擴(kuò)充；
