功能說(shuō)明：
　　1、點(diǎn)擊測(cè)試：根據(jù)客戶不同要求，在測(cè)試區(qū)域內(nèi)任意位置設(shè)置多點(diǎn)點(diǎn)擊測(cè)試，測(cè)試每個(gè)點(diǎn)的位置偏差，真實(shí)的檢測(cè)出產(chǎn)品的處理能力及精準(zhǔn)度。
　　2、劃線線性測(cè)試：支持平行線、垂直線、對(duì)角線、圓弧等多種圖像來(lái)檢測(cè)產(chǎn)品的線性偏差。可在測(cè)試區(qū)域內(nèi)任意設(shè)置線距、線數(shù)及弧度的大小，的體現(xiàn)產(chǎn)品的特性。
　　3、坐標(biāo)抖動(dòng)測(cè)試：在測(cè)試區(qū)域內(nèi)可設(shè)置多個(gè)點(diǎn)并對(duì)每一個(gè)點(diǎn)進(jìn)行多次數(shù)據(jù)采集，并計(jì)算出偏差值。
　　4、信噪比測(cè)試：通過(guò)對(duì)產(chǎn)品多點(diǎn)點(diǎn)擊測(cè)試，采集IC采集的信號(hào)值并計(jì)算信噪比。
　　5、報(bào)點(diǎn)頻率測(cè)試：在測(cè)試區(qū)域中心位置觸控產(chǎn)品，多次采集數(shù)據(jù)，計(jì)算出產(chǎn)品發(fā)出數(shù)據(jù)的頻率。
　　6、響應(yīng)時(shí)間測(cè)試：在測(cè)試區(qū)域內(nèi)任意位置點(diǎn)擊或劃線，通過(guò)控制觸控并采集計(jì)算出產(chǎn)品的響應(yīng)時(shí)間。
　　7、功耗測(cè)試：通過(guò)高毫瓦級(jí)功耗測(cè)試模塊測(cè)試出產(chǎn)品的靜態(tài)及動(dòng)態(tài)功耗。