x熒光膜厚儀檢測器。X射線檢測器主要由光電管和前置放大器組成。光電管 的陰加有高壓(通常幾百伏)。當X射線光子射到光電管的陰時產(chǎn)生電子,在陰電壓的作用下,把陰的每個電子(假設每放大n個電子)增加到d (d為數(shù))個電子,即放大管電流,終到達陽,然后通過前置放大器把管電流放大并轉(zhuǎn)換成電壓形式。
x熒光膜厚儀可測元素范圍:鋁(AL) –鈾(U)。
可測量厚度范圍:原子序22-25,0.1-0.8μm26-40,0.05-35μm43-52,0.1-100μm72-82,0.05-5μm。
自動測量功能:編程測量,自定測量修正,測量功能。
底材修正:已知樣品修正。
定性分析功能:光譜表示,光譜比較。
定量分析功能:合金成份,分析數(shù)據(jù)。