比表面積及微孔分析儀功能
　　比表面測(cè)定：BET（單點(diǎn)、多點(diǎn)）比表面，Langmuir比表面，外表面測(cè)定；
　　微孔常規(guī)分析：微孔總孔體積、總內(nèi)表面積（t-圖、D＆R、MP等）
　　BJH孔徑分布測(cè)定：總孔體積、平均孔徑、孔容/孔徑的微分與積分分布；
　　　　
　　真密度測(cè)試
　　比表面積及微孔分析儀技術(shù)參數(shù)
　　比表面積及微孔分析儀原理方法：低溫氮吸附，靜態(tài)容量法
　　比表面積及微孔分析儀吸附氣體：高純氮?dú)猓部捎秒?、氦、二氧化碳等其他氣體
　　比表面積及微孔分析儀限真空：4-6.7×10-2Pa（3-5×10-4　Torr）
　　比表面積及微孔分析儀氮?dú)夥謮海?×10-5–0.995
　　比表面積及微孔分析儀控制：測(cè)試壓力點(diǎn)小控制間隔可小于0.1　KPa（0.75　Torr），可測(cè)上千個(gè)點(diǎn)。
　　比表面積及微孔分析儀測(cè)試范圍：比表面≥0.01　M2/g，無規(guī)定上限
　　孔徑　0.35-400　nm
　　比表面積及微孔分析儀測(cè)試：≤±2%
　　比表面積及微孔分析儀測(cè)試效率：多點(diǎn)BET比表面每樣平均20min
　　孔徑分析時(shí)間隨不同材質(zhì)各異
　　比表面積及微孔分析儀預(yù)處理：兩樣品同位處理，溫度50-400℃，±1℃
　　比表面積及微孔分析儀軟件：BET（單點(diǎn)、多點(diǎn)）、Langmuir、BJH、t-Plot、MP、D-R等
　　
　　真密度測(cè)試：重復(fù)性0.02%
　　比表面積及微孔分析儀特色
　　◎比表面儀具有業(yè)內(nèi)通過技術(shù)鑒定產(chǎn)品，控制和測(cè)試國際水平；
　　◎比表面儀具有的抽氣與充氣速度精密控制技術(shù)，了測(cè)試的準(zhǔn)確性和性；
　　◎比表面儀具有的多途徑液氮面控制與校正技術(shù)，連續(xù)測(cè)試10小時(shí)也不需添加液氮；
　　◎比表面儀具有有完善的標(biāo)準(zhǔn)等溫線數(shù)據(jù)庫和規(guī)范的分析方法，微孔常規(guī)測(cè)試技術(shù)國內(nèi)；
　　◎比表面儀具有軟件功能、界面友好、操作方便、實(shí)時(shí)顯示樣品吸、脫附壓力變化及平衡過程；
　　◎比表面儀具有實(shí)驗(yàn)自動(dòng)化、智能化控制，長時(shí)間運(yùn)行可以無人職守?！?