| 環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn) | ||
篩選試驗(yàn)是一種對產(chǎn)品進(jìn)行全數(shù)檢驗(yàn)的非破壞性試驗(yàn)。其目的是為選擇具有特性的產(chǎn)品或剔早期失效的產(chǎn)品，以產(chǎn)品的使用性。產(chǎn)品在制造過程中，由于材料的缺陷，或由于工藝失控，使部分產(chǎn)品出現(xiàn)所謂早期缺陷或故障，這些缺陷或故障若能及早剔除，就可以在實(shí)際使用時產(chǎn)品的性水平。 | ||
| 電應(yīng)力篩選：加電工作試驗(yàn)、加電加負(fù)荷試驗(yàn) 溫度應(yīng)力篩選：高溫、低溫、高溫工作或低溫工作 環(huán)境應(yīng)力篩選：溫度變化 機(jī)械應(yīng)力篩選：沖擊或振動 其他篩選：參數(shù)篩選、一致性篩選 篩選試驗(yàn)也可分為普通篩選 參照標(biāo)準(zhǔn)： MIL-STD-2164-85 G1032－90 “電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法” G451-90 MIL-STD-721C-81 MIL-STD-785B-80 |
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| 技術(shù)參數(shù) | ||
CK-290+LED測試系統(tǒng) 圖片供參考,實(shí)物以訂單為依據(jù). | 高微電腦無段式控制調(diào)溫系統(tǒng) 以PID＋Fuzzy 方式控制,使系統(tǒng)之加減熱量耗、、減碳效果.制熱電子化智慧控制,故能長期穩(wěn)定的使用。 | |
| 技術(shù)參數(shù) | ||
CK-179+LED測試系統(tǒng) 圖片供參考,實(shí)物以訂單為依據(jù). | 溫度范圍：55℃～150℃ 。 點(diǎn)燈溫度范圍： 55℃~120℃。 升溫時間：20℃～150℃約50分鐘 (空載時)。 負(fù)載：HI POWER LED測試板60片(10顆/片)，每顆LED的輸入電源為0~1000mA，電壓為5V，發(fā)熱量600W;LO POWER LED測試板20片 (20顆/片)，每顆LED的輸入電源為0~200mA，電壓為5V，發(fā)熱量200W。 共80片LED測試板，負(fù)載材質(zhì)：LED×30%，電路板×20%，銅×50%。 | |
| PS.可依客戶測試規(guī)范或需求訂制 | ||
| 產(chǎn)品特性 | ||
BIO 圖片供參考,實(shí)物以訂單為依據(jù). | 可放10組模組板，輸出總數(shù)400 channels。 每組模組板對應(yīng)2組20channels輸出。 機(jī)箱型式：19"標(biāo)準(zhǔn)儀器箱，合EIA RS-310-C 之規(guī)范。 機(jī)箱尺寸：483W*221.5H*460D mm，采5U高度設(shè)計，可直接裝于EIA 19"標(biāo)準(zhǔn)儀器架。 機(jī)箱材質(zhì)：采鋁合金制造，質(zhì)輕、美觀、耐用。 | |
| PS.可依客戶測試規(guī)范或需求訂制 | ||
| 試驗(yàn)規(guī)范 | ||
| GB/T2423.2-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫》 GB/T13543-92《數(shù)字通信設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法》 MIL-STD-883D 《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》 MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)》 MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》 G150.3-86《設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 高溫試驗(yàn)》 G548A-96 《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》 SJ/T 10325-92《汽車收放機(jī)環(huán)境試驗(yàn)要求和試驗(yàn)方法》4.1 高溫負(fù)荷試驗(yàn) SJ/T 10325-92《汽車收放機(jī)環(huán)境試驗(yàn)要求和試驗(yàn)方法》4.2 高溫貯存試驗(yàn) |
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