熒光分析儀 X-Strata920是一款率、快速的鍍層厚度測量及材料分析設(shè)備。
X-Strata920在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出卓越的分析能力,可進行多鍍層厚度的測量。X-Strata920為這些行業(yè)提供了:
以更的過程控制來生產(chǎn)力
有助電鍍過程中的生產(chǎn)成本小化、產(chǎn)量化
快速地分析珠寶及其他合金
快速分析多達4層鍍層
經(jīng)行業(yè)的技術(shù)和性,每年都帶來收益
操作簡單,要簡單的培訓(xùn)
其他說明
主要規(guī)格 | 規(guī)格描述 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
X射線激發(fā)系統(tǒng) | 垂直下照式X射線光學(xué)系統(tǒng) | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
空冷式微聚焦型X射線管,Be窗 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
標準靶材:Rh靶;任選靶材:W,Mo,Ag等 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
功率:50W(4-50kV,0-1.0mA) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
裝備有射線光閘 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
二次X射線濾光片:3個位置程控交換,多種材質(zhì),多種厚度的二次濾光片任選 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
準直器系統(tǒng) | 單準直器組件 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
多準直器自動控制組件:多可同時裝配6種規(guī)格的準直器 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
圓形,矩形和多種規(guī)格尺寸準直器任選(紅色為常用的):
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
測量斑點尺寸 | 在12.7mm聚焦距離時,小測量斑點尺寸為:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>準直器) | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
在12.7mm聚焦距離時,測量斑點尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm<即圓形12mil>準直器) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
樣品室 | 開槽式樣品室 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
樣品臺尺寸 | 610mm x 610mm | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
XY軸移動范圍 | 標準:152.4 x 177.8mm<程控> | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Z軸程控移動高度 | 43.18mm | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
XYZ軸控制方式 |
多種控制方式任選: XYZ三軸程序控制; XY軸手動控制和Z軸程序控制; XYZ三軸手動控制 |
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||
樣品觀察系統(tǒng) |
高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng),標準放大倍數(shù)為30倍. 50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選. |
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||
激光自動對焦功能 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
可變焦距控制功能和固定焦距控制功能 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
計算機系統(tǒng)配置 |
IBM計算機 佳能或愛普生彩色噴墨打印機 |
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||
分析應(yīng)用軟件 |
操作系統(tǒng):Windows XP中文平臺 分析軟件包:SmartLink FP軟件包 |
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||
測厚范圍 | 可測定厚度范圍:取決于您的具體應(yīng)用. | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
基本分析功能 | 采用基本參數(shù)法校正.牛津儀器將根據(jù)您的應(yīng)用提供要的校正用標準樣品; | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
樣品種類:鍍層; | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
可檢測元素范圍:Ti22 –U92; | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
可同時測定5層/15種元素/共存元素校正; | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
貴金屬檢測,如Au karat評價; | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
材料和合金元素分析; | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
材料鑒別和分類檢測; | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
多達4個樣品的光譜同時顯示和比較; | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
元素光譜定性分析. | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
調(diào)整和校正功能 | 系統(tǒng)自動調(diào)整和校正功能,自動消除系統(tǒng)漂移 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
測量自動化功能 | 鼠標激活測量模式:"Point and Shoot" | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
多點自動測量模式:隨機模式,線性模式,梯度模式,掃描模式,重復(fù)測量模式 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
測量位置預(yù)覽功能 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
激光對焦和自動對焦功能 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
樣品臺程控功能 | 設(shè)定測量點 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
連續(xù)多點測量 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
測量位置預(yù)覽(圖表顯示) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
統(tǒng)計計算功能 | 平均值,標準偏差,相對標準偏差,值,小值,數(shù)據(jù)變動范圍,數(shù)據(jù)編號,CP,CPK,控制上限圖,控制下限圖 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
任選軟件:統(tǒng)計編輯器允許用戶自定義多媒體書 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
數(shù)據(jù)分組,X-bar/R圖表,直方圖 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
數(shù)據(jù)庫存儲功能 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
系統(tǒng)監(jiān)測功能 |
Z軸保護傳感器 樣品室門開閉傳感器 |