電位控制范圍:0-±12.8V
電位掃描分辯率±0.1mV
槽壓:±30V
輸出電流:±250mA
電流測量分辯率±15fA
A/D分辨率:24bit(<1KHz),16bit(>1KHz)
D/A分辨率:16bit
溫度穩(wěn)定性:<10UV/℃
電位輸出:0.2%±1
電流掃描范圍:±250mA
電流測量量程:±100nA~±250mA共14檔
電流輸出:0.2%±1
電位測量量程:±0V~±12.8V
CV和LSV掃描度:0.0001-10000mV/s
CA和CC脈沖寬度:0.0001-1,000sec
CA和CC階躍次數(shù):320
ACV頻率:0.1-10KHz
SWV頻率:1-100KHz
DPV和NPV脈沖寬度:0.0001-10sec
輸入阻//輸入電容>1012//<20pF
輸入偏流<20pA
數(shù)據(jù)長度 128,000點
電設(shè)置:三電或四電設(shè)置
連續(xù)測量時間取樣間隔*數(shù)據(jù)長度
儀器尺寸:360*300*12(厘米)
儀器重量:3kg
分析測試方法:
恒電位儀
單電位階躍計時電流法(I-T)
循環(huán)伏安法(CV)
多電位階躍計時電流法(I-T)
線性掃描伏安法(LSV)
單電位階躍計時電量法(Q-T)
階梯伏安法(SCV)
多電位階躍計時電量法(Q-T)
Tafel圖(TAFEL)
線性掃描溶出伏安法(SCV)
計時電流法(CA)
階梯溶出伏安法(SCV)
計時電量法(CC)
方波溶出伏安法(SWV)
差示脈沖伏安法(DPV)
差示脈沖溶出伏安法(DPV)
常規(guī)脈沖伏安法(NPV)
階梯循環(huán)伏安法(SCV)
方波伏安法(SWV)
線性掃描循環(huán)伏安法(CV)
差示常規(guī)脈沖伏安法
差示脈沖循環(huán)伏安法(DPV)
恒電位電解電流-時間曲線(I-T)
恒電位溶出電流-時間曲線(I-T)
恒電位電解電量-時間曲線(Q-T)
恒電位溶出電量-時間曲線(Q-T)
主要應(yīng)用領(lǐng)域:
1.研究電化學(xué)機理。
2.物質(zhì)的定性定量分析。
3.常規(guī)電化學(xué)測試。
4.生物技術(shù)
5.納米科學(xué)
6.傳感器研究
7.電池研究
8.電鍍研究
其他說明
線性掃描伏安法 (LSV) | 恒電位電解電流 - 時間曲線 ( I-T ) |
循環(huán)伏安法 (CV) | 恒電位電解電量 - 時間曲線 ( Q-T ) |
線性掃描溶出伏安法 (LSV) | 恒電位溶出電流 - 時間曲線 ( I-T ) |
階梯伏安法 (SCV) | 恒電位溶出電量 - 時間曲線 ( Q-T ) |
階梯循環(huán)伏安法 (SCV) | 單電位階躍計時電流法 ( I-T ) |
階梯溶出伏安法 (SCV) | 多電位階躍計時電流法 ( I-T ) |
方波伏安法 (SWV) | 單電位階躍計時電量法 ( Q-T ) |
方波循環(huán)伏安法 (SWV) | 多電位階躍計時電量法 ( Q-T ) |
方波溶出伏安法 (SWV) | 電位溶出 E-T 曲線 |
常規(guī)脈沖伏安法 (NPV) | 開路電勢 E-T 曲線 |
差示脈沖伏安法 (DPV) | 單電流階躍計時電位法 |
差示脈沖溶出伏安法 (DPV) | 多電流階躍計時電位法 |
差示常規(guī)脈沖伏安法 (DNPV) | 控制電流 E-T 曲線 |
塔菲爾圖 (TAFEL) |
單恒電位儀電位范圍: &plun;12.8V | D/A 轉(zhuǎn)換速率 18bit |
電流范圍 &plun;250mA | A/D 轉(zhuǎn)換速率 24bit |
槽壓: &plun;15V | CV 和 LSV 掃描速度 0.1 ~ 10000mV/s |
電位上升時間﹤ 0.25 微秒 | 電位掃描時電位增量: 0.1mV@200mV/mS |
靈敏度 1 ╳ 10 -14 A | DPV 和 NPV 脈沖寬度 2 ~ 5000ms |
電流測量分辨率﹤ 0. 1pA | SWV 頻率 1 ~ 100KHz |
CV 的小電位增量: 0.01mV | 自動和手動電流,電位位調(diào)整 |
電位更新速率: 5MHz | 電位和電流測量低通濾波器,自動和手動設(shè)置 |